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【泰克干货分享】闪烁噪声的监测,详解用SCS参数分析仪测试1/f噪声

  • 电子器件会有不同类型的噪声源,包括热噪声、白噪声和1/f噪声。1/f噪声是低频电子噪声,其电流(ISD)或功率(PSD)频谱密度与频率成反比,见下图典型噪声谱,前面是1/f噪声,大小和频率相反,后面是白噪声,均匀分布。由于1/f噪声反映了器件的质量、可靠性等参数 , 其研究越来越为人们所重视。 1/f噪声测试为确定器件的1/f噪声,我们通常要测量电流相对于时间的关系,然后通过快速傅立叶变换(FFT)把数据转换到频域。为保证准确性,仪器本身噪声必须小于DUT噪声,所以测试方案推荐使用能测试极小电流的4200
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4200A-CVIV多开关使测试时间缩短30倍

  • 泰克高性能4200A-SCS 是一个模块化、可定制、高度一体化的参数分析仪,可同时进行电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 电学测试。
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全新参数分析仪降低特性分析复杂度,加快获得信息的速度

  •   全球领先的测量解决方案提供商——泰克科技公司日前推出可以量身定制的全面集成的Keithley 4200A-SCS参数分析仪,通过降低新用户或偶尔使用的用户面临的特性分析复杂度,简化测试设置,提供清楚精确的结果,加快了用户获得半导体器件、材料和工艺洞察力的速度。   Keithley 4200-SCS参数分析仪已经取得了巨大的成功,在此基础上,新推出的4200A-SCS仪器采用现代工业设计,拥有全新图形用户界面及多种自学工具,如仪器内嵌的专家指导视频。其结果,是测试设置时间缩短
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