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NI 图形化系统设计加速嵌入式控制与监测系统开发
时间:2012年12月27日 10:00
LabVIEW软件和NI 可重配置I/O (RIO)硬件为设计团队提供了一个卓越的设计方法，以便在不需要自定制设计的情况下更快地完成要求苛刻的嵌入式控制与监测任务。
MDO 混合域分析仪在EMI诊断中的应用
时间：2013年01月17日 10:00
过多的EMI干扰，FCC要求通不过，不知道因何？用频谱仪加近场探头只能找出哪里EMI辐射过多，却不知道是有什么原因造成？如何诊断导致EMI的根本原因，着手解决减低辐射问题？此次研讨会将解答你对如何诊断系统EMI的各种问题，如何透过时域、频域联合调测查找系统EMI的根本原因。
英特尔嵌入式产品认知调查(第二期)
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ADI系列视频有奖问答第三期
拆解过去、DIY未来，拆解+DIY活动启动
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