如果不能正常显示,请您点击这里

2012年第14期 总第386期
每周头条
迎接连接时代复杂的测试新挑战
        2012年第八届中国国际国防电子展期间,由《电子产品世界》杂志社主办的第五届国际测试与仪器应用论坛(ITMAF 2012)于5月10日在中国展览馆报告厅召开,本届论坛的主题是面向连接时代的高性能测试技术应用。来自测试行业的专家和厂商共聚一堂,共同探讨测试行业的当今形势和未来发展之路。
更多详情请点击这里>>
网站推广内容

第九届绿色电源与电源管理技术研讨会
活动时间:5月25日
地点:深圳华强广场酒店
为广大电源技术工程师创造与电源半导体厂商零距离接触的平台,帮助工程师解决电源设计过程中遇到的各种实际问题。

2012 Silicon Labs &EDOM新品巡演及应用技术研讨
活动时间:5月29日(北京)
6月5日(深圳) 6月7日(厦门)
演讲主题包含Silicon Labs灵活易用的32位MCU产品在方案、全新低功耗和无线MCU解决方案、高性能时钟产品等的应用方案。

会超快I-V半导体特性分析的要点、技巧和陷阱
活动时间:5月29日
本期研讨会旨在帮助实验室工程师实现、排除故障和验证脉冲I-V、瞬态I-V和通用超快I-V测量系统。研讨会还介绍了做好测量的要点。探讨的话题包括系统设置、测量极限的典型值和从真实器件得出的测量结果。

你问我答Linear,京东图书任意送
将任何有关Linear问题发布在此版块,我们将随机从每周所发帖子中抽出2个幸运者。

深圳网友见面会
EEPW网拟定于本月下旬在深圳举办网友见面会,凡愿意参与EEPW活动或对电子行业有独到见解的工程师朋友,均可报名参加。

给力反馈第三期:电子工具书免费得!
EEPW论坛内发个20篇技术问题帖(含技术回帖),奖励京东商城“电子与通信”版块内价值50元之内的任意图书一本。

Microchip视频专区

FPGA开发板DIY预备季

资源中心推荐

Keithley 4200-SCS型互锁机构的安全使用
利用大功率数字源表构建多源测量单元...
LED测试面临的下一个重大挑战:高功率...
测试测量与控制平台PXI技术资源包
NI PXI的优势探究
构建自动化测试系统的最佳实践指南
热像仪应用_过程行业_反应器

新闻热点
《电子产品世界》2011年度电源技术及产品奖揭晓
危言耸听:英特尔狂言半导体代工穷途末路
国产CPU:放手一搏正当时
三星高通等公司组建无线充电联盟
熊猫逆市建LCD十代线遭业界质疑
余承东批互联网公司蜂拥开发安卓系统无意义
技术革新
日开发出触摸面板银浆电极材料
高通Wi-Fi显示技术:电视机同步显示手机画面
LED寿命测试标准新进展
美找到低压下提高LED发光率新法
WiFi联盟推Passpoint技术 让手机随时随地蹭网
产业观察
2012年MCU市场主旋律:低端被替代 高端走整合
英特尔:计算力将主导智能手机的未来
LED照明:“拼爹”时代 从“价格厮杀”到“技术火拼”
OLED产业渐起国产面板业又将阵痛?
中国光伏业的幕后吸金王
新品推出
Intersil推出下一代40纳米Thunderbolt 解决方案
Marvell发布全方位云计算服务解决方案
高通发布物联网产品路线图并为其提供资源支持
意法发布下一代高性能惯性传感器模块
凌力尔特推出300MHz至4GHz下变频混频器
EEPW关注e行业
北斗导航路漫漫
源科:枕戈待旦迎接固态存储元年
迎接连接时代复杂的测试新挑战
学会向国防要市场
Harting第三代接班人:把中国变成最大市场
如果您不愿意继续接收来电子产品世界的自动订阅邮件,请点击
Copyright ©2002 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.