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主要议题
  高性能测试测量解决方案   高性能仪器在国防领域的应用
  航空航天测试系统构建及特殊要求   先进测试测量技术发展趋势
  自动化测试方案最新技术发展趋势   自动化测试测量系统平台设计与解决方案
  雷达、射频微波测试测量解决方案   苛刻环境下对测试测量仪器的特殊要求
  高速数据采集技术在自动化测试中的应用
论坛信息

主办单位: 中国电子进出口总公司    《电子产品世界》杂志社
承办单位:《电子产品世界》杂志社    中国电子国际展览广告有限责任公司
地      点: 北京德宝饭店五层多功能厅
时      间: 2010年5月12-13日

背景介绍

       伴随着金融危机的到来,消费电子领域市场面临极大的挑战。然而,随着中国国内电子产业的继续深化,即使面对并不景气的经济形势,测试测量技术依然有广泛而活跃的市场需求。扩大内需的政府举措更是给测试测量产业发展的巨大空间,其中很大一部分投入集中在与国防、航空航天和高性能测试领域,促使中国高端测试测量市场逆势上扬,保持旺盛的活力。

      从奥运的成功到神舟系列的腾飞,嫦娥计划的顺利进行到大飞机的研制,中国经济的强大,无论是新技术研发、高科技产品生产、国防电子工业和航空航天产业的升级,都离不开测试测量技术的强有力保障。有鉴于此,《电子产品世界》将在2010年第三届国际测试仪器及应用技术大会上,通过选择最新的测试测量仪器产品和测试测量解决方案,为广大参会者带来对测试测量领域的全新了解,并且对他们的实际工作有指导作用。

会议日程
Agenda: may 12
时间Time 演讲题目Topic 演 讲 人Speaker
08:30-08:45 来宾签到Registration
08:50-09:00 开幕致词 Welcome
李健/ 编辑
电子产品世界杂志社
09:00-09:45 国防电子测试的最新发展及
安捷伦解决方案
阚先胜/高级市场工程师 Agilent
安捷伦科技(中国)有限公司
09:45-10:30 R&S微波信号源分析与计量技术 卫栋/产品工程师 Rohde-Schwarz.
罗德与施瓦茨中国有限公司
10:30-11:15 RIGOL最新测试测量产品及解决方案 冀卫东/全球市场开发经理RIGOL
北京普源精电科技有限公司
11:15-12:00 利用凌华科技PXI产品构建高性能军用测试系统平台 吴幼倩/量测与自动化产品事业处 产品总监 ADLINK 凌华科技股份有限公司
Agenda: may 13
时间Time 演讲题目Topic 演 讲 人Speaker
08:30-08:45 来宾签到Registration
08:50-09:00 开幕致词 Welcome
李健/ 编辑
电子产品世界杂志社
09:00-09:45 交互式电子技术手册IETM平台综合技术
高宁/信息化产品事业部主任
北京航天测控技术开发公司
09:45-10:30 构建以软件为核心的自动化测试系统 乔巍/北方区销售经理 NI
美国国家仪器有限公司
10:30-11:15 新一代信号仿真及分析平台
苏水金/高级客户技术支持经理Tektronix
泰克科技(中国)有限公司
11:15-12:00 新一代高速信号的接收机抖动容限
测试解决方案

李海龙/LeCroy

美国力科公司
奖项设置
一等奖:
250G移动通硬盘(2台)
二等奖:
精美电脑包(10个)
现场提问奖:
研讨会纪念笔筒
纪念奖:
多功能读卡器一台及同期国防电子展的门票一张

网络报名并全程参会听众均可获得多功能读卡器一台及同期国防电子展的门票一张。
* 注:奖品以现场实物为准,《电子产品世界》杂志社对本次活动拥有最终解释权。

目标听众

       测试测量仪器的应用人员和测试系统开发者及应用者,包括工业、通信、航空航天、国防等行业的研发与应用工程师、教育工作者。

目标听众分析
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