时间:2006年4月27日  北京德宝饭店(四星级)

 
协办单位:《电子设计应用》杂志社
支持媒体:《仪器仪表商情》月刊

 

 

科学技术的发展离不开测试测量技术,测试测量技术是产品质量的重要保证。随着被测试系统、产品的发展水平日趋提高——速度越来越快、体积越来越小、应用覆盖范围越来越广,人们对测试测量技术的要求也越来越高,促使测试测量技术和测量仪器不断出现新理论、新技术和新方法。

会议议题

实时频谱测量技术、虚拟仪器在测试系统中的应用、电磁兼容(EMC/EMI)测量、射频和微波测量、汽车电子与测试、嵌入式测试、高速串行数据测试、自动测试设备、通信网络测试、先进IC测试技术、复杂调制度信号测量、航空电子/GPS测试、PXI与数据采集系统的建立、测试测量技术的发展趋势和方向。

会议日程

时 间
演讲题目
演 讲 人
09:00-09:30
报道,收取名片或调查表准备下午抽奖活动
09:30-09:35
开幕致词
EEPW主编 王莹
09:35-10:20
黑鸟及下一代测试总线LXI
Aglient 航空航天及国防业务市场项目经理 邢国元
10:25-11:10

雷达信号测试方案及仪器应用

罗德与施瓦茨中国有限公司
产品经理 陈峰

11:15-12:00

共同构建
下一代国防设计系统的测试平台

Tektronix设计与制造测试仪器产品部航天航空及国防应用销售经理 周文昊

12:00-13:00

自助午餐

13:00-13:45

航天和军工测试技术的挑战

北京航天测控技术公司
总经理 奚全生

13:50-14:35

NI产品在现代航空航天和军工
测试应用上的解决方案

美国国家仪器公司
中国区域销售经理 高向东

14:40-15:25

迎接测试测量世界新挑战

北京普源精电科技有限公司
国内销售部副总经理 李艺

15:30-15:40
国内测试测量行业的现状
中国电子仪器行业协会秘书长徐春龄

15:45-16:15

测试测量行业的“十一五”规划

国家“十一五” 规划电子仪器组组长
中国工程院院士 张钟华

16:20-16:30 抽奖(三台精美MP3播放器),活动结束

注:此活动日程为暂定,以会议当日公布的为准

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联系方式

北京

联系人:王炜

《电子产品世界》杂志社会展部

电话:8610-68580742

传真:8610-68580564

电邮:jackwang@edw.com.cn

 

HONG KONG

Jorge Moo Lew

Alegra International Limited

Tel: 852-23668005

Fax: 852-23668905

Email: eepw@alegra.com.hk

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本次研讨会免费参加,参会人员必须提前注册,可选择网上注册电话注册;若没有提前注册不能领取会议资料也不能参加抽奖活动。

听众报名请联系:

电子产品世界会展部 梁超
电话:010-58882867
传真:010-68580564
E-mail: liangchao@edw.com.cn

厂商报名请联系:

电子产品世界会展部 王炜
电话:010-68580742
传真:010-68580564
E-mail: jackwang@edw.com.cn

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