一种适用于UHF频段RFID 近场天线的阻抗测量方法
图 8 中我们比较了仿真和测量的阻抗值。从阻抗比较的小比例图可以看出，天线的阻抗随着频率变化剧烈，这意味着匹配后天线的带宽很窄。在 866MHz，仿真得到的阻抗值为366.9+j467.03(Ohm)，而de-embedding 后测量得到的阻抗值为 460.8+j309(Ohm)，二者的Q值相差了0.6 左右。对于窄带的匹配，任何Q 值的微小差异都会导致匹配的失败，所以精确的阻抗测量对于匹配网络的设计至关重要。这也是我们要对天线测量进行de-embedding 技术处理原因。
基于在 866MHz 测量得到的阻抗值，我们可以设计出匹配网络。图9 给出了添加了设计的匹配网络后NFRA 的S 参数的仿真和测量值的比较。可以看出，仿真得到的带宽为
4 结论
以一款设计好的 NFRA 为例，阐述了一种低损耗的阻抗测量方法。通过联合测量和de-embedding 技术，得到了天线阻抗的精确值。在得到的测量阻抗的基础上，设计出了性能良好的匹配网络，匹配后的NFRA 的S 参数仿真值和测量值吻合良好，证明了这种方法的有效性和精确性。
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