元器件的连通性和绝缘电阻测试

　　在图 3中，可使用7169A型20通道C型开关卡以相对较高的电压（最高500 V）测量绝缘电阻（对于最大1300 V的电压，可使用7153型4×5高电压小电流矩阵卡）。7169A型开关卡具有位置敏感的继电器，并只可用于7002型开关主机中。

　　7169A型开关卡上的两个总线可将其配置为开关或复用。若需测量插针1和2之间的绝缘电阻，需闭合通道1和22。

　　图 3，测试任意两个端子之间的绝缘电阻（IR）

　　电阻器（R）限制着通过继电器的充电电流。这些电阻器取代了开关卡上出厂安装的跳线，使电缆电容充电和放电电流达到最小。典型的R值为100 kΩ。

　　连通性和绝缘电阻组合测试

　　有些多插针装置需要测量通过每一导线的通路电阻或连通性（低阻），并测量导线之间的绝缘电阻（高阻）。测试系统需要切换和测量低阻（ 1Ω）和非常高的电阻值（> 109Ω）。

　　该测试系统可被用于各种装置，例如连接器、开关、多芯电缆和印制板。

　　切换配置

　　图4所示一套通断性和IR组合测量系统，通过一台4线DMM或源表测试多芯电缆。电阻R1～R20表示导线电阻.为了测量导线1的电阻R1，需要闭合通道1和21.电阻Ra和Rb表示导线之间的漏阻。可测量任意两根或多根导线之间的漏阻。若要测量漏阻Ra，需要闭合通道1和22。这实际上是导线1和2之间的漏阻，Ra远远大于R1。

　　图4，通断性和IR测试系统

　　单套包含7702型40通道差分放大器的2700型多用表/数据采集系统可测试最大20根导线。当利用DMM测量漏阻时，施加的最大电压通常小于15 V。此外，测得的最大电阻往往不会高于100 MΩ。为了测试规定测试电压下的IR，可以使用的测试配置如2400型源表和7001型或7002型开关主机中的7011型1×10多路选通卡。

　　图5，扩展的通断性/IR测试系统

　　如果需要更高的测试电压或必须测量更高的漏阻，则可使用图5所示的电路。在该图中，采用了两块7154型高压扫描卡来将2410型源表和2010型数字多用表切换至8根导线。该系统能够以高达1000 V的测试电压测量低达0.1 mΩ的导线电阻和高达300 GΩ的漏阻。注意，2410型和2010型未被连接到开关卡输出，而是连接到插卡的指定通道。插卡的输出，仅用来将系统扩展为可测量更多数量的导线。若要测量电阻R1的阻值，需闭合通道1、10、11和20。这样将把2010型连接到R1两端；若要测量Ra，也就是R1和R2之间的漏阻，需要闭合通道1、9、12和19。这样将把2410型连接到漏阻（Ra）两端。