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影晌开关电源可靠性的因素

作者:时间:2012-09-26来源:网络收藏

  从各研究机构研究的成果可以看出,环境温度和负载率对的影响很大,这两个方面对由于有很大的影响,所以下面将从这两个方面分析如何设计出高可靠的。其中,PD为使用功率;PR为额定功率。UD为使用电压;UR为额定电压。

  1)环境温度对元器件的影响

  表1~表3分别列出环境温度对半导体器件、电容器和电阻器的影响。表1和表13以PD/PR=0.5使用负载设计,而表12则以UD/UR=0.65使用负载设计。


  表1 环境温度对半导体器件的影响

  由表1可知,当环境温度Ta从20℃增加到80℃时,半导体器件的失效率增大到30倍。

  由表2可知,当环境温度Ta从20°C增加到80°C时,电容器的失效率增大到14倍。


  表2 环境温度对电容器可靠性的影响

  从表3可知,当环境温度Ta从20℃增加到80℃时,电阻器的失效率增大到4倍。


  表3环境温度对电阻器可靠性的影晌

  2)负载率对元器件的影响

  表4和表5分别列出了负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响。

  由表4可知,当PD/PR=0.8时,半导体器件的失效率是PD/PR=0.2时的1000倍。


  表4 负载率对半导体器件、电阻可靠性的影响(环境温度50°C)

  从表5可知,当PD/PR=0.8时,电阻器的失效率是PD/PR=0.2时的8倍。


  表5负载率对电阻器可靠性的影响



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