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更快地对高速存储故障深入调试三大步骤

作者:时间:2013-11-30来源:网络收藏
逻辑分析仪系统提供了下列优势:

  通过简单的连接,对全部 DDR总线进行64K深的高分辨率定时分析。64k深度信号可以从触发前的100%调节到触发后的100%。

  独特的高分辨率眼图,可以识别百万分之几概率的故障信号。

  可以从搜索功能中自动设置全局标尺(最多1024个)。

  着色滤波功能可以识别轨迹的码型,协助观察内存访问情况。

  协议解码转换命令,用于进行功能性验证。

  全局标尺可以跟踪波形和列表窗口。

  对于使用同一时钟的所有信号,使用眼图测量可以一目了然地查看所有信号。

  图1中感兴趣的测量包括:

  时钟周期测量。图1中的系统是DDRII_400,时钟周期是5ns。

  使用标尺测量数据有效窗口,或使用鼠标在轨迹上移动,确定转换宽度的分布情况。

  从有效命令(指令时钟 (CK0)的上升沿,其中CS低,位于WRITE/ READ命令期间)到数据脉冲期间第一个数据选通的上升沿,测得的RAS/CAS等待时间。

  从有效激活(指令时钟的上升沿,S0 = 0,其中命令 = Activate)到有效WRITE/CAS测得的RAS/CAS时延。

  刷新速率。

  预充电间隔。

  着色滤波器使工程师能够迅速识别表明内存访问问题的码型。

  图3:着色滤波器使工程师能够迅速识别表明内存访问问题的码型。

  在图1中,用标尺标出的明显问题区域中,S0 (片选)偶尔会在CK0 (指令时钟)上升沿的250ps范围内启动。

  这可能要超出DDRII 400 建立/保持时间(Ts/Th)》600ps的指标。为正确检验建立时间和保持时间,我们必需使用高速示波器和探头探测SDRAM上的CK0/CK0#和片选。如果Ts/Th对任何信号处于边际状态,那么它可能会导致间歇性的或持续的内存故障。

  在我们连接示波器探头,检定S0的Tsetup /Thold之前,我们可以使用逻辑分析仪上的眼图测量功能,进一步评估边际定时关系。请看图2中所示的眼图:1. CK0是方形波。2. S0是三角形波,构成了与CK0的上升沿有关的眼图。3. S0上升时间慢可能是这个系统中间歇性系统故障的根本原因。边沿慢使得眼图变差,减少了建立时间(Tsetup)。4. 从百万分之几概率的故障信号中识别潜在问题。百万分之几的故障信号会在眼图内部显示为绿色的斑点。在本例中,没有证据表明存在故障信号。边沿慢是主要问题。

  逻辑分析



关键词: 高速存储 调试

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