基于HARQ的TD－LTE基站性能测试方案
如果测试环境确实希望使用外置信道仿真器，则只需使用安捷伦N5182B/N5172B射频信号发生器即可完成上述系统的测试。典型的测量系统如图3所示。
图3 N5182B/72B MXG-B测试系统
2.2 软件平台
PXB或N5182B/72B通过Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 软件产生特定的参考测试信号，并实时地调整编码冗余因子。
图4 上行信号配置
图5 HARQ设置
2.3 反馈信号格式
基站下发给PXB或N5182B/72B的ACK/NACK信号以RS232C串行通信的数据格式进行编码，PXB或N5182B/72B根据相同的编码速率和格式进行解码得到ACK/NACK值。反馈信号由8个比特组成，1个起始位，1个停止位，无奇偶校验位。具体的数据格式如表2所示。
表2 ACK/NACK编码格式（LSB）
比特位 | 0 | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 |
ACK | 0 | 1 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
NACK | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 | 1 | 0 | 1 |
3测试结果
按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台，启动基站及PXB或N5182B/72B，同时在示波器和基站控制端观察测试结果。
图6 PXB或N5182B/72B实时响应
图6为示波器上观察到的PXB或N5182B/72B实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以及PXB或N5182B/72B的ACK/NACK响应（高电平为ACK，低电平为NACK）。如图所示，HARQ时序响应与标准协议完全相符。
基站端对上行射频信号进行分集接收并解调，然后通过CRC校验对接收结果作出判断，最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。
根据3GPP TS 36.141规定，选取PUSCH，20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线，Normal CP下，按照列出的前10个Case依次测试，结果如下：
表3 PUSCH，20MHz 带宽下PUSCH性能测试结果
Case | 1 | 2 | 3 | 4 | 5 | 6 | 7 | 8 | 9 | 10 |
标准值（%） | 30 | 70 | 70 | 70 | 30 | 70 | 30 | 70 | 70 | 30 |
实测值（%） | 35 | 81 | 80 | 71 | 46 | 84 | 42 | 85 | 73 | 31 |
4结论
结果表明，系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见，结果显示直观可信。同时，该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下，仅仅通过软件配置即可实现1×2，2×2，2×4及4×2的MIMO配置，从而实现基站HARQ，Timing Adjustment以及PUCCH性能测试，是TD-LTE基站性能测试的理想平台。
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