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大功率LED的热量分析与设计

作者:时间:2012-02-15来源:网络收藏

三、热阻的测量

1. 原理

半导体材料的电导率具有热敏性,改变温度可以显著改变半导体中的载流子的数量。禁带宽度通常随温度的升高而降低,且在室温以上随温度的变化具有良好的线性关系,可以认为半导体器件的正向压降与结温是线性变化关系:
ΔVf=kΔTj (K:正向压降随温度变化的系数)
则从公式(1)及其推导可知,的热阻(结点到环境)为:
Rthja=ΔVf /(K*Pd )
式中, Pd=热消散速率,目前约有60%~70%的电能转化为热能,可取Pd=0.65*If*Vf计算。
只要监测正向压降Vf的改变,便可以求得K值并算出热阻。

2. 测量系统

热阻测试系统如图4,要求测试中采用的恒温箱控温精度为±1℃,电压精度1mv。图中R1是分流电阻,R2用来调整流过LED的电流大小,通过电阻R1、R2和恒流源自身的输出调节,可以精确控制流过LED的电流大小,保证整个测试过程中流过LED的电流值恒定。

3. 测试过程
(1)测量温度系数K:
a. 将LED置于温度为Ta的恒温箱中足够时间至热平衡,此时Tj1= Ta ;
b. 用低电流(可以忽略其产生的对LED的影响,如If’ = 10mA)快速点测LED的Vf1;
c. 将LED置于温度为Ta’(Ta’>Ta)的恒温箱中足够时间至热平衡,Tj2=Ta’;
d. 重复步骤2,测得Vf2;
e. 计算K:K=(Vf2-Vf1)/(Tj2-Tj1)=(Vf2-Vf1)/( Ta’- Ta)
(2)测量在输入电功率加热状态下的变化:
a. 将LED置于温度为Ta的恒温箱中,给LED输入额定If使其产生自加热;
b. 维持恒定If足够时间至LED工作热平衡,此时Vf达至稳定,记录If ,Vf;
c. 测量LED热沉温度(取其最高点)Ts;
d. 切断输入电功率的电源,立即(〈10ms)进行(1)之b步骤,测量Vf3。
(3)数据处理:△Vf= Vf3-Vf1,
取Pd=0.65*If*Vf计算:Rthja=△Vf/(K*Pd)Rthsa=(Ts-Ta)/Pd=(Ts-Ta)/(0.65*IF*Vf)Rthjs=Rthja-Rthsa

四、讨论
1. Tj (P-N结点温度)
一般而言,温度会影响P-N结禁带宽度,结点温度升高造成禁带宽度变窄,使得发光波长偏移,并引发更多的非可见光辐射导致发光效率降低。另外,晶片温度过高会对晶片粘结胶及四周的保护胶造成不良影响,加快其老化速度,甚至可能引起失效。Lumileds公司提出的失效计算公式如下:

其中, 是结点温度为T2时的失效概率,是结点温度为T1时的失效概率,EA= 0.43eV,K=8.617*10-5 eV/K。根据此公式,失效概率随着Tj的升高会愈来愈槽糕。
LED产品的最高结点温度(Tjmax)的高低主要取决于晶片的性能,若是封装材料受温度限制则Tjmax需适当降低,通常Tjmax不能大于125℃。但是,随着晶片技术的进步和封装技术的提高,目前可见到的K2系列产品之Tjmax已经能达到150℃。
1. 计算、测量热阻的意义
1) 为LED封装散热提供理论和实践依据

a. 选择合适的晶片:对晶片不能只要求出光效率高,必需针对制程中解决散热的能力采用足够高

Tjmax的晶片。在实践中我们发现,某些种类的晶片只经过24H老化就有较大衰减,这与其耐高温性能比较差相关。

b. 评估/选择支架、散热铝基板:依Rthsa或Rthba作为目标值,查对物料供应商提供的物料资料并计算其热阻,剔除不合要求的物料。通过试样,测试、对比不同物料的热阻,可做到择优而用。

C. 评估粘结胶及其效果:一般使用到的晶片粘结胶是银胶或锡膏,热沉与散热铝基电路板间的结合胶是导热硅胶或其它散热胶,胶体的导热系数、胶的厚度、结合面的质量制约热阻的大小。粘结胶是否合适,必需通过实验,测得热阻作为评估结论的判断依据之一。

2) 推测Tj

通过热阻等参数可以推测Tj,进而可以与设定的Tjmax比较,检验Tj是否符合要求。晶片温度与产品失效概率密切相关,在知悉某Tj时的失效概率的情况下,可以求得产品在推测出来的Tj时的失效概率。
3) 评估LED工作时可能遭遇的最高环境温度

设定Tjmax后,相应地可以导出环境温度的最高值。为了保证产品的信赖性,大功率LED产品应给出散热铝基电路板的表面最高温度或环境(空气)温度以指导下游应用产品的开发。

2. 在大功率LED的应用中改善处理

前面提到大功率LED的P-N结温(Tj)过高会引起发光衰减、使用寿命缩短、波长漂移等问题,为保证Tj低于Tjmax,要求合理二次散热结构,并计算最大输入功率、大功率LED应用产品的环境温度。
大功率LED应用产品时,应尽量选择导热性较好的材料并设计散热通道,减少热阻薄弱环节。使用过程中,对于Ta较高的环境,在无法减小热阻的情况下,可适当降低输入电功率,即减少Pd值,牺牲亮度以保证信赖性。

五、总结

通过对大功率LED热的产生、热阻、结温概念的理解和理论公式的推导及热阻测量,我们可以指导大功率LED的实际封装设计、评估和产品应用。需要说明的是,文中说明的电压法测量热阻方法简单但操作上有一定难度,需反复实验、修正。管理是在LED产品的发光效率不高的现阶段的关键问题,从根本上提高发光效率以减少热能的产生才是釜底抽薪之举,这需要晶片制造、LED封装及应用产品开发各环节技术的进步。

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