跨越RFID测试挑战“三重门”，加速物联网产业发展
另外，由于RFID采用无线传输方式，再加上实际工作环境复杂，存在竞争、冲突和干扰问题。因此，RFID信号测试项目很多：包括许多和时间相关的参数，如读写器和标签发射机响应时间参数、跳频时间、码元周期等，还包括频域指标、调制域指标等。
曾志总结了RFID测试面临的主要挑战：
1.读写器测试
- 需要能够准确、快速地捕获RFID的间歇性突发信号；
- 需要兼容多种调制和解码方式及标准；
- 需要时域频域和调制域的联合分析，时间相关测量 （如标签读取的时序）；
- 需要强大的频域触发功能，捕获频域上的特定信号（如干扰）；
- 跳频信号捕获（触发）和解调分析 。
2.标签测试
- 需要对微弱信号的测量和分析能力；
- 需要兼容多种调制和解码方式，自动解调和解码
3.系统测试
- 密集环境下的交互和抗干扰测试；
- 一致性（互通性）测试；
- 系统读写周期分析；
- 解码和信令测试；
- 需要长存储，存储多个完整的读写周期，便于对读写状态分析。
“能实时、准确捕获RFID间歇性信号，支持多标准、多域分析功能等，这是相应信号分析设备应对上述三个方面测试挑战所要具备的特性。”曾志指出，“泰克基于DPX专利技术的实时信号分析仪（RTSA）系列以及最新推出的集成频谱分析仪的混合域示波器MDO4000系列为RFID研发、现场和认证测试提供了强大的解决方案平台。”
图3： 实时频谱分析仪和传统频谱分析仪的区别。
RFID的测试分为研发测试（读写器实验室研发、系统开发和验证）、现场测试（系统调试、电磁环境评估、干扰查找和定位、数据采集）和认证测试（RFID标准一致性测试、系统互通性测试 ）三个阶段。
泰克公司提供的RFID测试解决方案——RTSA和混合域分析仪及示波器MDO在研发测试阶段所能发挥的作用分为以下三个方面：
1.读写器设备的Troubleshooting：如进行读写器信号实时频谱分析（频率、功率、调制带宽等），调制质量分析，瞬态噪声分析，跳频捕获和调制质量分析，时序测量，命令测试等；
2.标签测试：灵敏的触发设置，捕获低调制深度标签信号，时序测量，频谱测试，负载调制能量和质量；
3.分析和评估读写器与标签互通特性：实时频谱分析（同频频谱分析），时序测量，碰撞分析，标签调制回波质量分析。
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