基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案

　　3GPP TS 36.141规定性能测试只需在配置1下进行，因此可以根据表1的描述得到配置1时的时序图：在配置1时，上行只在子帧2、3、7和8四个位置发送上行信号;下行由基站在子帧1、4、6和9发送ACK/NACK指令，指令的指示对象及重传位置关系如图1所示。

　　测试平台

　　硬件平台

　　性能测试目的在于模拟实际环境下的系统吞吐率，因此需要基站与测试仪器进行联调。硬件测试平台包括：支持2天线接收的TD-LTE eNB基站、安捷伦基带信号发生器与信道仿真仪PXB、安捷伦矢量信号发生器MXG(主要用于上变频)以及一台四通道示波器(用于系统调试)。测试系统结构如下。

　　PXB实时产生TD-LTE上行信号并经过特定信道模型下的衰落后，输出的基带I/Q信号经过MXG上变频分别送入基站的两根接收天线。基站端对接收到的射频信号进行解调解码，并以RS232C的串行通信方式将反馈结果(ACK/NACK指令)传回至PXB，PXB根据ACK/NACK指令实时调整RV因子重新发送数据包或选择放弃当前数据包(当eNB发送ACK信号或是已达到最大重传次数)。最后基站端统计得到系统的吞吐率。

　　软件平台

　　PXB通过运行在其内部的Signal Studio N7625B-WFP for LTE TDD 软件产生特定的参考测试信号，并实时地调整编码冗余因子。

　　反馈信号格式

　　基站下发给PXB的ACK/NACK信号以RS232C串行通信的数据格式进行编码，PXB根据相同的编码速率和格式进行解码得到ACK/NACK值。反馈信号由8个比特组成，1个起始位，1个停止位，无奇偶校验位。具体的数据格式如表2所示。