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基于HARQ的TD-LTE基站性能测试方案

—— TD-LTE eNB Performance Test Solution Based on HARQ
作者:白瑛 张勤 丛姗姗 安捷伦科技软件有限公司时间:2011-02-23来源:电子产品世界收藏

  测试结果

本文引用地址:http://www.eepw.com.cn/article/117169.htm

  按照测试结构图搭建好测试系统并配置软件平台,启动基站及PXB,同时在示波器和基站控制端观察测试结果。图5为示波器上观察到的PXB实时响应。通道1、2、3和4分别为上行信号帧头、ACK/NACK指令序列、上行信号I/Q数据以及PXB的ACK/NACK响应(高电平为ACK,低电平为NACK)。如图所示,时序响应与标准协议完全相符。基站端对上行射频信号进行分集接收并解调,然后通过CRC校验对接收结果作出判断,最后得到在特定衰落模型下的系统吞吐率。根据3GPP TS 36.141规定,选取PUSCH,20MHz带宽信号作为测试案例。在2根接收天线,Normal CP下,按照列出的前10个Case依次测试,结果如表3所示。

  结语

  结果表明,系统完全满足标准测试要求。测试过程透明可见,结果显示直观可信。同时,该测试系统在不添加任何硬件配置的情况下,仅仅通过软件配置即可实现1×2,2×2,2×4及4×2的MIMO配置,从而实现基站Timing Adjustment以及PUCCH性能测试,是TD-基站性能测试的理想平台。


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关键词: LTE HARQ

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