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电子元件老化——电压基准中的长期漂移（LTD）

• 了解制造商如何表征和估计用于电子元件老化预测的电压参考的长期漂移（LTD）。虽然电压参考的输出在理想情况下应该与温度和时间无关，但现实世界的电压参考可能会受到温度和老化的影响。考虑到这一点，本文将讨论制造商如何表征和估计电压参考的LTD。为了更好地为本文做好准备，阅读之前的文章以了解石英晶体、电阻器和放大器的老化效应可能很重要。电压基准的老化效应总的来说，电压基准的输出会随时间而变化。通常，半导体材料的掺杂水平和封装材料施加到电压参考管芯的物理应力会随时间变化，导致电压参考输出中的LTD。电压参考的LTD
• 关键字： 电子元件老化，电压基准，长期漂移，LTD