NI近日与ARM公司共同发布了应用于ARM微处理器上的NI LabVIEW嵌入式模块。它是LabVIEW图形化系统设计平台的延伸，直接适用ARM 7, ARM 9和Cortex-M3微处理控制器系列产品。新模块结合图形化系统设计平台与世界最流行的微控制器以简化嵌入式系统开发。
该模块是第一款由两家公司共同合作下，结合LabVIEW的易操作性和ARM微处理器性能的产品。ARM是行业内主要的32位嵌入式精简指令集（RISC）处理器供应商，目前占有超过75％的市场份额以及超过100亿的ARM核设备。当
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NI ARM LabVIEW 嵌入式 微控制器
美国国家仪器中国有限公司近日发布了带有集成键盘的NI PMA-1115便携监测器，该PMA可以连接到NI的任何8槽或者PXI Express机箱。在PXI的不同应用领域，该产品与PXI机箱的配合使用都非常理想，如汽车，自动测试设备以及航空航天和国防等产业中车辆测试，手机故障诊断和个人自动测试执行程序等应用。
“在皇家荷兰海军中，PXI是国防应用的自然选择。” Richard van der Weide说道，“我们需要使用独立的NI LabVIEW和基于PXI的
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NI PXI 触摸屏
美国国家仪器有限公司宣布推出其NI LabVIEW 8.5控制设与仿真模块。作为LabVIEW图形化系统设计平台的扩展，该模块可以帮助工程师和科学家们分析开环模型的状况，设计闭环控制器，仿真系统以及创建实时操作。该模块最新版本引入了全新的设计功能，如解析比例积分微分（PID）以提高系统的闭环的稳定性和对于多变量系统的模型预测控制。LabVIEW控制设计与仿真模块还带有18个全新的“.m”文件函数来扩展对LabVIEW MathScript的支持，以简化诸如建模、定义模型如何连接
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NI LabVIEW 控制设计 仿真模块
2008年4月 -美国国家仪器有限公司（National Instruments,简称NI） 推出新款M系列USB数据采集设备（DAQ），该设备支持18位模拟输入，采样率达到625 kS/s。NI USB-6281和USB-6289包含18位ADC，相比传统16位设备其分辨率提高4倍，与高于5½位分辨率的DC测量旗鼓相当。这些设备还提供了增强型模拟输出通道，能够实现量程及偏移量可编程设定。除了标准螺丝型端子或mass终端连接器等选择，OEM版还提供与嵌入式系统的集成性功能，包括34针和5
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NI USB 数据采集
PXI Express的技术优势
由于PXI标准采用了PCIe技术，PXI自动化测试系统提供了前所未有的高性能。在有些情况下，PXI仪器现在可以执行一些迄今一直无法完成的测量。
PXI Express是由PXI扩展所得。新型PXI Express机箱提供了支持PXI与PXI Express模块协同工作于同一系统的混合兼容的插槽。所以
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PXI Express PCIe技术
1 引言
热膨胀仪测试系统国内目前大多使用VC开发，其编程过程复杂，仪器之间的通讯实现十分繁琐，需要花费大量的时间。美国NI公司提出的虚拟仪器是一种综合的测试技术，它通过计算机上添加几种共性的基本仪器硬件模块，通过软件的思想来组合成各种功能的仪器和系统的仪器设计思想。虚拟仪器技术利用LabVIEW进行开发，LabVIEW系统开发能缩短复杂程序的开发时间，更迅捷、更经济地解决测试问题，而且它的界面友好，这使得它已经越来越多地在应用在测试领域。它内置了PCI、DAQ、GPIB、PXI、VXI、RS一
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NI 虚拟仪器
传统设计模式所应对的挑战
嵌入式系统正在渗入现代社会的各个方面，广泛地应用于航空航天、通信设备、消费电子、工业控制、汽车、船舶等领域，据统计，在美国平均每个中产阶级家庭要使用40~50个嵌入式系统。巨大的市场需求推动了嵌入式系统向更高的技术水平发展。设计师们一方面采用性能更强大的嵌入式处理器如32位、64位RISC芯片取代传统的8位、16位微处理器；另一方面嵌入式系统也由单处理器单操作系统的传统结构向混合型Multi-core系统发展，通过采用多个处理器和OS提高系统并行度来提高系统运行效能，并
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NI LabVIEW 嵌入式系统
HIRFL-CSR工程
兰州近代物理所HIRFL-CSR(重离子加速器－冷却存储环)工程是国家九五重点国家重大科学工程。HIRFL-CSR是一个集加速、累积、冷却 、储存、内靶实验及高分辨测量于一体的多功能实验装置。
兰州近代物理所HIRFL-CSR包括：主环(CSRm)、实验环(CSRe)、束运线、放射性束(RIB)分离器、实验探测装置。主环周长161米，最高加速能量为900MeV/u(12C6+)和400MeV/u(238U72+)，试验环周长129米，最大接收能量为600MeV/u
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PXI 重离子加速器 冷却存储环控制系统
NI 发表 NI LabVIEW 8.5 控制设计与模拟 (Control Design and Simulation) 模块，为 LabVIEW 图形化系统设计平台的延伸，可协助分析开回路 (Open-loop) 模型的行为、设计闭回路 (Closed-loop) 控制器，仿真系统，并建立实时建置作业。最新版模块具有新的设计功能，如可提升系统闭回路稳定性的分析式 PID 功能，与多变量 (Multivariable) 系统的模型预测控制。LabVIEW 控制设计与仿真 (Control Design
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NI LabVIEW 8.5
概述
无线射频接收机是一个监测系统，它负责从天线上接收射频能量，然后把信号频率降到数字化仪可接收的范围内进行采集，随后就可以对信号进行诸如扫频、频谱分析、功率计算、调制和解调参数分析的操作。一个无线监测接收系统的主要指标应该包括：动态范围、灵敏度、本底噪声、解调模式等。此文将详细介绍基于NI PXI技术的无线电接收机技术指标。
NI射频架构综述
NI的射频架构基于虚拟仪器技术的概念，它包括：高性能的模块化硬件(射频信号分析仪PXI-5660、射频信号发生器PXI-5670)以及高灵活
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NI PXI技术 无线电接收机
引言
测试是成本中应避免的支出。移动电话的生产测试成本可能会占项目总成本较大的一部分。在移动电话测试中，决定其参数和功能测试的程度是相当复杂的，必须对生产线变化以及在测试过程和设计成熟时加以评估。以调试为目的进行的测试与其它测试略有差别，调试在生产过程中是重要的增值步骤，而不单只是验证过程。调试的需求直接与器件的设计相关，在此阶段采用PXI模块仪器有助于改进生产率和降低对功能测试的要求。
生产测试过程
印刷电路板(PCB)生产和手机生产是两个分开的制程。测试过程是从PCB生产线已装满
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模块仪器 VXI PXI 移动电话
美国国家仪器宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元(source measure uNIt，SMU)和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域，如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数，相比传统的方式，具有轻便小巧、性价比高的优点。
NI PXI-4130源测量单元是一款可编程、灵活、高功率且适合高精度直流测试应用的3U PXI模块。其相互隔离的SMU通道，可提供包含4线遥感的四象限
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NI
如今的手机生产测试面临越来越复杂的环境，一边是多种频段和多制式的挑战，一边是生产测试速度的压力，同时还面临测试成本的压力。确定手机射频参数和功能检验测试的合适的深度和广度是比较复杂的，它需要我们随着生产线的变化，产品本身的成熟度的提升不断寻找平衡点。射频校准在整个生产流程中，它是一个增加产品价值的步骤，它的测试要求直接与产品的设计有关。
生产测试流程
这里的生产测试不包括PCB（印刷电路板）生产，当PCB投入到手机组装线上时，生产测试流程开始，由此手机将经历5个操作步骤：
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PXI，射频模块仪表
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