- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布了NI NI PXIe-5632 VNA，它经进一步优化，可帮助工程师满足日益复杂的射频测试要求，而其成本、尺寸和使用所需时间仅是传统堆叠式解决方案的极小一部分。
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NI 分析仪 PXIe-5632
- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布全新版本的自动化测试管理软件 —— NI TestStand 2012。凭借其全新的模块化流程架构，NI TestStand 2012帮助工程师提升了自动化测试系统的灵活性和吞吐量。新的模块化架构让测试设置变得更为容易，扩展了测试和报告的灵活性，让工程师可在并行测试中同时进行这两项任务。
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NI TestStand 测试系统
- 由美国国家仪器有限公司(National Instruments，简称NI)举办的“NIDays全球图形化系统设计盛会”中国站于11月16日在北京万达索菲特大饭店圆满落幕。今年的NIDays以“仪器 • 变革进行时”为主题，向近千位来自不同行业的工程师和二十多家行业媒体全方位展示了NI在推动测试测量、控制和设计领域及创新技术应用方面一直所做的努力。
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NI 测试测量 嵌入式
- 前言对于当今的电子工业而言，从组件到系统、设计到生产，量测工作皆是不可或缺的一环。工厂必须借助量测获知...
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GBIP PXI 量测技术
- 美国国家仪器公司(National Instruments, 简称 NI)近日发布全新版本的自动化测试管理软件 —— NI TestStand 2012。凭借其全新的模块化流程架构，NI TestStand 2012帮助工程师提升了自动化测试系统的灵活性和吞吐量。新的模块化架构让测试设置变得更为容易，扩展了测试和报告的灵活性，让工程师可在并行测试中同时进行这两项任务。
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NI 自动化测试
- NI TestStand 2012采用全新的模块化框架，能够简化自动化测试的开发和报告生成。NI TestStand 2012包含新的异步数据记录和报告生成方法，适用于并行测试，还能够提升测试吞吐量。
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NI 测试
- 美国国家仪器公司(NI)在汽车电子领域已经耕耘了多年，在半导体技术与汽车融合的大趋势下，他们有哪些举措呢?为此，我们采访了NI公司汽车电子方面的产品经理Noah Reading，听他来讲述NI公司在汽车电子方面的解决之道。
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NI ECU 汽车电子
- 基于PCI的PXI标准从1997年被提出以来，作为挑战存在已久的VXI出现的新鲜面孔，借助PC平台的快速发展，PXI技术以惊人的速度在测试和控制应用领域得到广泛应用。在PXI快速发展的过程中，1998年成立的PXI系统联盟起了重要的推广作用，系统联盟在1999年就达到了50家，为PXI的起跑提供了强有力的支撑。
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PXI 测量测试 201210
- 长期以来的预测趋势揭示了整个系统设计流程中的设计和测试趋于统一，这两个先前独立的功能将被集成在一起。集成功能的明显优势在于缩短了投入市场的时间并获得更好的整体质量，而这些优势都归功于在创建设计的同时集成了测试定义和实现。在系统设计过程中，从仿真到实现以及最终系统部署，都可以对这些早期测试平台进行重用。
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NI LabVIEW FPGA
- 在下一代无线局域网白皮书中已经讨论了最新的802.11标准存在的一些问题。众所周知，测试工程师都想尽快找到测试该标准的测试设备。大多数测试工程师发现使用最佳性能的昂贵盒式仪器的传统方法已经无法适用于该情况。出现该问题的原因十分简单：测试工程师急需各种资源，主要包括时间、预算和空间。
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NI FPGA WLAN
- 概述在下一代无线局域网白皮书中已经讨论了最新的802.11标准存在的一些问题。众所周知，测试工程师都想尽快找到测试该标准的测试设备。大多数测试工程师发现使用最佳性能的昂贵盒式仪器的传统方法已经无法适用于该情
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WLAN FPGA PXI 测量
- 近日，北京泛华恒兴科技有限公司(简称：泛华恒兴)推出了一款基于PXI总线的RAID阵列卡——PXI-3702。该卡最多可以板载4个SATA硬盘，为用户提供数据备份和存储空间扩展，最大读写速度可以达到80MB/S。
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泛华恒兴 RAID PXI-3702
- 全新发布的针对802.11ac WLAN以及低耗电蓝牙(BLE)技术测试的NI解决方案集成了NI WLAN测量套件，基于FPGA的NI PXIe-5644R矢量信号收发仪(VST)以及NI LabVIEW，可以帮助搭建高性能、基于软件设计的测试系统。
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NI FPGA WLAN
- NI LabWindows/CVI 2012，是用于测试测量应用的ANSI C集成开发环境(IDE)的一个重要的升级更新，它增添了许多全新工具包并包含了许多经过改善-了的工具包，能够帮助工程师更加快速地开发他们的系统。
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NI LabWindows/CVI 测试测量
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