据ABI公司调查数据显示,2012年大约有3千万的无线可穿戴式健康传感器应用在医疗电子领域,这个数字比2011年增长了37%。
Jonathan Collins,这项研究的主要分析者对MobiHealthNews称这份报告主要研究那些可以穿着(不包含在皮下的),可以进行无线连接并通过某种方式检测穿着者的健康的装置。
ABI公司预测在2011年到2017年之间,可穿戴式传感器这个市场将会以41%的年增长率增加,2017年,可穿戴式传感器的数量将达到1亿6千9百万。而2011年的2.077千万
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MS 医疗监测 传感器
迈思肯公司宣布推出用于线性条码、2D码和直接部件标记(DPM)解码应用的双视野镜头MS-2D成像引擎。新的MS-2D引擎提供了先进的解码技术并专为嵌入式应用而设计。该引擎配备了一个120万像素 CMOS传感器(960×640像素),借助双视野镜头它可提供可靠的读码范围,从大的一维条码到小的高密度二维码。
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迈思肯 MS-2D 嵌入式
嵌入式系统中BACnet-MS/TP协议栈的实现,1 引言20世纪90年代,Internet经历了爆炸性发展,成为垄断全球的计算机网络。以Cisco和Sun为代表的一批公司借助这一浪潮发展成为世界上顶尖的大公司。而在智能建筑领域,也正在重现这一过程。上世纪80年代,直接数字
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C++test 7.3新功能初探 -- 静态规则分析部分,前言:C++test 7.3发布已经有一段时间了,本文将分几个系列一起与大家探讨C++test 最新版本在静态分析、BugDetective、单元测试、嵌入式测试方面的新功能、新特性,以便大家对该工具有更深入的了解和体会。如果有任何
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使用C++test在Tornado 2.2-VxWorks-5.5 simulator 下针对CPP代码做单元测试时,出现不能获取测试结果的问题,反复侦测问题的缘由,查看帮助文档,终于在帮助文档中找到如下一些说明:“The default build of Vx
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MS Windows CE的实时系统,介绍MicrosoftWindowsCE快速反应的嵌入式应用常常管理严格的时间反应。例如,制造过程控制,高速的数据采集设备,电讯交换设备,医用设备,空中“有线”控制,武器发射装备,空间航行和导航,实验室,实验
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系统 实时 CE Windows MS
近年来,随着通信和多媒体市场的快速增长,数字系统无论在处理能力还是处理速度上都取得了飞速的发展,因此对作为模拟信号通向数字信号桥梁的模数转换器(ADC)的性能要求也越来越高 [1]。在各种ADC结构中,流水线ADC在
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bit ADC 40 MS
精密数据采集和控制解决方案全球技术领导者美国迈思肯(Microscan)公司日前宣布,其将于2011年11月1日至5日在上海国际工业博览会的第W2154号展台,展示其多款高速扫描器产品和新近推出的AutoVISION机器视觉产品系列。
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迈思肯 AutoVISION QX-870 MS-9
精密数据采集和控制解决方案全球技术领导者美国迈思肯(Microscan)公司日前宣布,其将于2011年11月1日至5日在上海国际工业博览会的第W2154号展台,展示其多款高速扫描器产品和新近推出的AutoVISION机器视觉产品系列。
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迈思肯 AutoVISION 扫描器 QX-870 MS-9
摘要:采用TSMC 0.18 mu;m 1P6M工艺设计了一个12位50 MS/s流水线A/D转换器(ADC)。为了减小失真和降低功耗,该ADC利用余量增益放大电路(MDAC)内建的采样保持功能,去掉了传统的前端采样保持电路,采用时间常数匹配
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流水线 转换器 CMOS MS 12位 一种
Boston Semi Equipment Group(BSE 集团)旗下公司 Test Advantage 宣布已经收购了位于菲律宾的一家面向自动测试设备 (ATE) 市场的硬件维修中心 Microstats, LLC。这两家公司将整合它们的产品、解决方案和共同的客户群,以增强 Test Advantage 在后端半导体市场的产品和服务。
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四通MS-2424型打印机的电源电路如图所示。现从维修角度出发,将其电路原理与工作过程简要介绍如下。1.主电源电路的工作原理与过程电路如图1所示。该电源电路是利用以两块专用的电源变换器组件M5231L为核心构成串联稳
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原理 分析 电路 电源 MS-2424 打印机 四通
挑战:通过PXI 控制板卡和LabVIEW软件,构建一套比较完整齐全的PCB板的功能测试(FCT)系统,利用该系统可实现对音频视频以及各种静态参数(电压、电流、频率)的综合性全自动测试,对于新开发生产的PCB板,工厂无需频
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Functional LabVIEW Circuit Test
科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码:CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”(译:最佳测试奖)奖项。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统,它采用先进科技,集成了更多更好的特性功能。Sapph
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