- “从目前看，国外IC测试设备厂商之间的并购，对国内用户来说不是好消息，设备过分集中在大公司手中，会使我们采购设备价格的谈判余地更小。”这是中国电子标准化研究所副总工程师、集成电路测试验证实验室主任陈大为日前就IC测试设备大厂爱德万有意兼并惠瑞捷一事发表的看法。由此看来，摆脱对国外测试设备的依赖，发展本土IC测试设备业，满足国内快速发展的集成电路产业需求迫在眉睫。
高端IC测试设备国际大厂绝对领先
测试业作为IC产业的重要一环，其生存和发展与IC产业息息相关。世界先进
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惠瑞捷 IC测试
- 1 引言 本文主要讨论芯片开发和生产过程中的IC测试基本原理，内容覆盖了基本的测试原理，影响测试决策的基本因素以及IC测试中的常用术语。 2 数字集成电路测试的基本原理 器件测试的主要目的是保证器件
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芯片 IC测试 原理
- EDA工具加速IC测试
随着IC制程节点从90nm向65nm和45nm延伸，需要测试的数据量会激增，相应地会带来测试成本的提高(图1)。例如，从90nm到65nm时，由于增加了门数，传统的测试量急剧增加;同时，在速(at-speed)测试也成倍增加，这是由于时序和信号完整性的敏感需求;到了45nm时代，在前两者的基础上，又增加了探测新缺陷的测试。
为了提高测试效率，对测试数据的压缩持续增长。据ITRS(国际半导体技术发展路线图)预测(图2)，2010年的压缩需求比2009年翻番。
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EDA IC测试 65nm 45nm 201001
- 微机电(MEMS)前景看好，设备商机更诱人，但由于MEMS产品高度客制化的特性，在测试设备上不若以往的IC制程，有一套标准化的流程，因此在开发MEMS设备时，不仅需有硬件的底子，更加强调所谓的软实力，也就是软件开发，这对台系设备厂来说，恐怕将是一大挑战。
台系设备厂跨入MEMS领域者少之又少，在测试领域目前只有致茂切入，从致茂的发展历程来看，由过去在电力电子领域建立基础，其IC测试设备不同于同业使用通用模式设计，而是针对客户客制化设计，与同业最不同的在于强调Turnkey Solution，提供
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微机电 MEMS IC测试
- 由于锂电池的体积密度、能量密度高，并有高达4.2V的单节电池电压，因此在手机、PDA和数码相机等便携式电子产品中获得了广泛的应用。为了确保使用的安全性，锂电池在应用中必须有相应的电池管理电路来防止电池的过充电、过放电和过电流。锂电池保护IC超小的封装和很少的外部器件需求使它在单节锂电池保护电路的设计中被广泛采用。 然而，目前无论是正向（独立开发）还是反向（模仿开发）设计的国产锂电池保护IC由于技术、工艺的原因，实际参数通常都与标准参数有较大差别，在正向设计的IC中尤为突出，因此，测试锂电池保护IC的实际工
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IC测试 锂电池
ic测试介绍
IC测试
任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，IC测试就是集成电路的测试，就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。如果存在无缺陷的产品的话，集成电路的测试也就不需要了。由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的产品都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。
IC [
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