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爱德万测试发表全新多功能存储器测试系统T5833，同时支持Mobile DRAM与NAND闪存测试

• 　　2015 年6 月16 日，全球领先的半导体测试设备供应商爱德万测试发表全新存储器测试系统T5833，新系统同时支持DRAM 与NAND 闪存器件的晶圆测试及后道封装测试，可满足低成本大规模量产测试需求。T5833 预定本月开始出货。 　　随着移动电子设备销售量的不断攀升，主要搭载于智能手机及平板电脑上的DRAM、NAND 闪存与多芯片封装存储器 (MCP) 正朝着快速提升速度与容量的方向发展，这个趋势也同样显见于网络和云端服务器市场。然而，当今存储器种类繁多，测试成本是一大障碍，因此芯片制造商急需
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