首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> soc可测试

soc可测试 文章 进入soc可测试技术社区

SOC的可测试性设计策略

  • 1引言可测试设计(DFT)是适应集成电路的发展要求所出现的一种技术,主要任务是对电路的结构进行调整,提高电路的可测性,即可控制...
  • 关键字: SOC可测试  
共1条 1/1 1

soc可测试介绍

您好,目前还没有人创建词条soc可测试!
欢迎您创建该词条,阐述对soc可测试的理解,并与今后在此搜索soc可测试的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473