- 首屈一指的半导体测试公司惠瑞捷 (Verigy) 在其经生产验证的 V93000 平台中新增了 Direct-Probe™ 解决方案，从而提升了该平台的可扩展性。这款面向数字、混合信号和无线通信集成电路 (IC) 的高性能探针测试(probe test)产品在进行量产、多点探针测试时表现出最高的信号完整性。
新的 Direct-Probe 创新型射频 (RF) 解决方案降低了射频器件、高接脚数 (high-pin-count)数字器件以及复杂的混合信号器件的测试成本，使全球半导体市场
- 关键字：
惠瑞捷 测试系统 Direct-Probe
- 前言
随着低成本的在线调试能力的增强，通过指令单步调试变得更容易，成本也比较低。这种方式可以查看和修改变量值，显示寄存器的内容，查看内存块，但通常只有在目标系统停止运行时使用。然而，很多实时系统是不能停止的。因此，在不设置断点的情况下，如何查看系统正在做什么？如何在不妨碍和影响系统动态性能的前提下，实时查看和监测系统的行为？
当我们试图测试实时系统的动态行为时，传统的调试技术功能很快就变得有限了。自从第一片微处理器诞生以来，用于监控和调试动态系统的工具基本上没有发生什么变化。为了解决这个问
- 关键字：
动态系统 mC/Probe
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