首页　 资讯　 商机 　 下载　 拆解 　 高校　 招聘 　 杂志　 会展　 EETV　 百科 　 问答　 电路图　 工程师手册 　 Datasheet　 100例 　 活动中心　 E周刊阅读 　 样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> fpga嵌入式测试系统

fpga嵌入式测试系统 文章 进入fpga嵌入式测试系统技术社区

FPGA在嵌入式测试系统中的优势和设计挑战

  • 有多种方式可以在系统中加入智能化功能，其中一种常见的技术就是现场可编程门阵列(FPGA)。将算法编入FPGA中可为最终产品在成本、尺寸和性能方面带来很多好处。本文主要介绍在要求测量和控制功能的系统中使用FPGA可得到的好处和面临的挑战。
  • 关键字： FPGA嵌入式测试系统  
共1条 1/1 1

fpga嵌入式测试系统介绍

您好，目前还没有人创建词条fpga嵌入式测试系统!
欢迎您创建该词条，阐述对fpga嵌入式测试系统的理解，并与今后在此搜索fpga嵌入式测试系统的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052    京公网安备11010802012473