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立体堆叠式芯片 文章 进入立体堆叠式芯片技术社区

联电:明年试产28nm工艺3D堆叠芯片

  •   据悉,台湾代工厂联电(UMC)计划于2011年年中开始,使用28nm新工艺试产3D立体堆叠式芯片,并于2012年批量投产。   联电CEO孙世伟(Shih-Wei Sun)表示,这种3D堆叠芯片使用了硅通孔(TSV)技术,是联电与日本尔必达、台湾力成科技(PTI)共同研发完成的。这次三方合作汇聚了联电的制造技术、尔必达的内存技术和力成的封装技术,并在3D IC方案中整合了逻辑电路和DRAM。   孙世伟指出,客户需要3D-IC TSV方案用于下一代CMOS图像传感器、MEMS芯片、功率放大器和其他
  • 关键字: 联电  28nm  立体堆叠式芯片  
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立体堆叠式芯片介绍

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