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确定性测试 文章 进入确定性测试技术社区

西门子推出Tessent In-System Test，在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试

  • 西门子数字化工业软件日前推出 Tessent™ In-System Test 软件，作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案，旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。Tessent In-System Test 专为解决老化和环境因素等导致的静默数据损坏或错误 (SDC/SDE) 挑战而设计，是可与 Tessent™ Streaming Scan Network&n
  • 关键字： 西门子  Tessent In-System Test  确定性测试  
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确定性测试介绍

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