- RF晶体管和RF集成电路上的功率测量的复杂性日益增大。在高功率设备性能测量中,最重要的是测量饱和功率,由于很难用CW技术来评估参数,它通常在脉冲状态下测试。本文介绍的方法消除了用于测量的经典方法中的某
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测量器件 增益 方法
测量器件介绍
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