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SEU的抑制

• 　　引言 　　随着工艺技术的迅速发展，创新进一步提高了器件在速率、容量和功耗等方面的性能，使得FPGA比ASIC更具优势。然而，技术的发展也突出了以前可以忽略的某些效应，例如，单事件干扰(SEU)导致的软误码影响越来越大。通过仔细的IC设计，65nm节点单位比特的软误码率有所下降，但是每一工艺节点的逻辑容量在不断翻倍，配置RAM(CRAM)比特数量也随之增长。 　　现在的FPGA容量越来越大，功能越来越强，逐渐担负起系统的核心功能，例如数据通路等；因此，设计人员能够将系统集成在一片可编程芯片中。这些发
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