- 自戈登·摩尔提出至今,摩尔定律已持续发展半个多世纪,芯片集成度不断提高,性能不断提升。然而如今器件特征尺寸不断缩小,特别是接近纳米尺度的量级时,出现量子尺寸效应、界面效应、短沟道效应等问题,影响了器件性能。根据国际半导体技术蓝图预测,对于5nm以下技术节点工艺,现有存储技术将不能满足芯片高性能、低功耗的要求。因此,高密度、低功耗的新型存储器亟待开发。当前计算机架构基于“冯?诺依曼”体系,计算与存储相互分离,二者间的数据反复交换和速度差异占据了大量冗余时间,被称为“存储墙”,直接导致整个芯片系统运算速度下降
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复旦微电子学院 高密度存算一体化非易失性铁电单晶畴壁存储器
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