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半导体c-v测量入 文章 最新资讯

半导体C-V测量入门(1)

  • 普通测试电容-电压（C-V）测试广泛用于测量半导体器件，尤其是MOSCAP和MOSFET结构的参数。但是，通过C-V测量还能够对很多其他类型的半导体
  • 关键字： 半导体C-V测量入  

半导体C-V测量入门(2)

  • 基本测试配置图3给出了一种基本的C-V测量配置框图。由于C-V测量实际上是在交流频率下进行的，因此待测器件（DUT）的电容可以根据下列公式计
  • 关键字： 半导体C-V测量入  
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半导体c-v测量入介绍

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