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EEPW首页 >> 主题列表 >> 一文为您介绍电磁兼容(emc)测试

一文为您介绍电磁兼容(emc)测试 文章 最新资讯

安捷伦面向电子行业和研究部门提供精密低噪声电源

  • 安捷伦科技公司(NYSE:A)日前宣布推出两款低噪声电源。单通道 B2961A 和双通道 B2962A 属于 Agilent B2900A 精密仪器系列,是新一代精密低噪声电压/电流源电源。
  • 关键字: 安捷伦  测试  B2961A  

安捷伦WiMAX应用的测试方案

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: WiMAX应用  安捷伦  测试  OFDM调制  

Multitest公司MT2168满足大功率应用

  • 面向世界各地的集成元件制造商(IDM)和最终测试分包商,设计和制造测试分选机、测试座和负载板的领先厂商Multitest公司,宣布其MT2168拿放式分选机被一家业内领先的IDM选定为针对一款极具挑战性的电流应用的解决方案。
  • 关键字: Multitest  测试  MT2168  

ABX盲听测试简介

  • 人们平常听音乐,受到来自各方面因素影响着我们的实际听感。这些因素包括线缆、扬声器甚至软件解码器本身。那 ...
  • 关键字: ABX  测试  

关于音箱的技术测试和主观音质的评价

  • 6. 钕铁硼的优与劣  对于扬声器单元来说,磁性材料是它们的骨骼,是它们动力的基础。选用高磁能积的材料制造 ...
  • 关键字: 音箱技术  测试  主观音质  

新型数字源表专为低电压测试而优化

  • 吉时利仪器公司日前推出专为低电压测试而优化的低成本方案—2400系列数字源表。新推出的2401型数字源表与所有吉时利SMU(源测量单元)仪器一样,对光伏(太阳能)电池、高亮度LED(HBLED)、低压材料和半导体器件的电
  • 关键字: 新型数字  低电压  测试    

测试应用快速扩大阵列持续推动源测量单元仪器技术

  • 自20年前推出SMU以来,源测量单元(SMUs)已演变成一个多用途的仪器类别,人们经常要求SMU解决电子行业应用的快速扩大阵列:半导体设备制造,工艺开发和产品研发/设计电子产品的生产验证,如便携式无线设备器件所需新型
  • 关键字: 测试  测量单元  阵列  仪器技术    

NFC规范与测试

  • 近年来由于手机的功能与普及度快速的成长,使早期的电子钱包有了推广的机会点。NFC的演进取自于RFID的特定频段,由于手机的市场应用使的NFC可在较快的时间点取得标准接口与平台,本文将针对NFC的架构与规范做讨论。N
  • 关键字: NFC  测试    

基于SP37的汽车胎压监测设计与测试

  • 当汽车轮胎压力出现问题时,不仅会减少轮胎的使用寿命和增大油耗,甚至会导致爆胎等危险情况的发生。统计表明,目前我国高速公路上70%的交通事故为轮胎气压问题所引发。引发轮胎事故的原因比例为:轮胎气压过高占20%
  • 关键字: SP  37  汽车  测试    

RFID标签的各种测试和测量方法

  • 电子产品世界,为电子工程师提供全面的电子产品信息和行业解决方案,是电子工程师的技术中心和交流中心,是电子产品的市场中心,EEPW 20年的品牌历史,是电子工程师的网络家园
  • 关键字: RFID标签  测试  测量方法  

负载瞬态测试的简化

  • 引言负载瞬态测试是用于即时分析系统环路稳定性最简单的诊断手段:作为电压调节器对负载电流变化的...
  • 关键字: 负载瞬态  测试  

便携式岩土热物性测试仪的设计简介

  • 地源热泵手统与其它空气调节系统相比优点突出。由于地层深处温度常年维持不变,远远高于冬季的室外温度,而又明显低于夏季的室外温度。因此地源热泵克服了空气源热泵的技术障碍,且效率有很大的提高。另外它还具有噪
  • 关键字: 便携式  岩土  测试  仪的设计    

测试相干光收发机:需要知道什么?

  • 测试相干光收发机:在DP-QPSK从研发转向生产和部署时您需要知道什么对主要电信运营商和服务提供商来说,在远距离及超远距离密集波分复用(DWDM)中转向 100G 相干光技术的时机已经成熟。高带宽应用如影视点播和基于云的
  • 关键字: 测试  相干光  收发机    

40G/100G测试技术

  • 自从2010年6月IEEE发布了802.3ba 40GE/100GE标准以来,40GE/100GE成为电信业的注视焦点。经过近2年的努力,40GE/100GE系统研发已经基本完成。从2012年3月的OFC展会上,我们可以看到,从芯片、光收发模块供应商到系统
  • 关键字: 技术  测试  40G/100G  

对stc片内eeprom的测试

  • #includestc89.h>
    #includeintrins.h>
    #define uchar unsigned char
    #define uint unsgined int
    uchar code shuzi[]=0123456789-:;
    uchar d0,d1,d2,d3,t0;
    sbit lcd_rs=P2^5;//数据/命令选择端 H高 L低
  • 关键字: eeprom  stc  测试    
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