首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 深层缺陷

深层缺陷 文章 进入深层缺陷技术社区

平板导体深层缺陷定量检测仿真研究

  • 传统涡流传感器由于涡流的集肤效应以及检测中自身激励的干扰,难以测量导体深层缺陷信息,为了提高涡流传感器的检测能力,设计了矩形线圈模型,并改变了线圈模型的方位,可以有效的克服涡流的集肤效应,获取深层缺陷的信息。并采用数理统计方法对定量检测方法进行了研究,得出了缺陷深度与信号幅值之间的数学规律,经过验证,可以较为准确地对缺陷进行定量检测。
  • 关键字: 202108  涡流传感器  深层缺陷  定量检测  数理统计  
共1条 1/1 1

深层缺陷介绍

您好,目前还没有人创建词条深层缺陷!
欢迎您创建该词条,阐述对深层缺陷的理解,并与今后在此搜索深层缺陷的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473