首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 差错校验

差错校验 文章 进入差错校验技术社区

CRC差错检验法在PC 机与8031单片机串行通讯中的应用

  • 摘 要 通过对不同校验方法的分析,介绍了一种适合PC机与8031单片 机通讯差错校验的CRC方法并给出了其实现的 ...
  • 关键字: 数据传输  差错校验  CRC  串行通讯  
共1条 1/1 1

差错校验介绍

差错检验的原因: 数据在传输过程中,会受到来自信道内外的干扰与噪声,从而产生差错 差错检验的方法: 通常可以采用抗干扰编码或纠错编码来提高抗干扰能力 使用各种差错校验方法来检测错误 [ 查看详细 ]

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473