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艾迈斯半导体推出适用于高速电机的新型位置传感器,助力汽车行业的电气化发展

  • 全球领先的高性能传感器解决方案供应商、移动市场3D脸部识别领域领导者艾迈斯半导体(ams AG)近日宣布,推出两款新型位置传感器 — AS5147U和AS5247U,可降低系统成本,同时提高安全关键型汽车功能(如动力转向、主动减振器控制和制动)的电气化水平,有助于实现更安全、更智能、更环保的汽车。这两款新型位置传感器能够为汽车行业带来多种性能优势,并可降低系统成本。艾迈斯半导体AS5147U是一款智能旋转磁性位置传感器芯片,可用于转速高达28,000rpm的电机。新型AS5247U是一款双堆叠式裸片,可提
  • 关键字: SPI  BLDC  CRC  DSP  UVM  

MathWorks通过Universal Verification Methodology (UVM)支持加快FPGA和ASIC验证速度

  • MathWorks 近日宣布,HDL Verifier 从现已上市的 Release 2019b 开始提供对 Universal Verification Methodology (UVM) 的支持。HDL Verifier 能够让开发 FPGA 和 ASIC 设计的设计验证工程师直接从 Simulink 模型生成 UVM 组件和测试平台,并在支持 UVM 的仿真器(比如来自 Synopsys、Cadence 和 Mentor
  • 关键字: UVM  ASIC  

用于医疗和光谱应用的改进型深紫外光光纤

  •   1 深UV应用光纤的曝晒风险   用于梯度折射率光纤的纯硅芯材料易于受到UV引发衰减的影响。UV辐射引起玻璃结构中局部缺陷中心的增加,使得衰减增加,这个情况称为曝晒 (solarization)。大多数衰减发生在小于275 nm的波长范围,以及214nm和265 nm的吸收频带。损坏程度随光纤类型而有很大的变化,例如,在常见的梯度折射率光纤中,用作内核材料的合成石英玻璃是极纯的材料,却存在着数种浓度不同的内在杂质缺陷,而且入射的UV辐射会引起某些硅氧结构的缺陷。每种缺陷的浓度取决于数个因素,包括预制
  • 关键字: 光纤  UVM  FDP  UV辐射  曝晒  

Mentor欲成立机构研究基于图形的测试规范标准化

  •     Mentor Graphics日前宣布,为对基于图形的测试规范标准的标准化问题进行研究,公司已提议成立新的Accellera标准委员会。为深化此项工作,Mentor Graphics公司将把其现有的基于图形的测试规范格式作为技术捐赠奉献出来,以启动标准化工作。  “Mentor Graphics公司基于图形的规范化技术,以其快速彻底的覆盖设备状态空间能力,为验证领域带来了惹人注目的新价值,”SyoSil咨询公司的 所有人兼总经理 
  • 关键字: Mentor  Accellera  UVM  FPGA  嵌入式  
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