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SPARQ系列述评之二 ――信号完整性问题与S参数的关系

  • 摘要:随着半导体工艺的不断发展,数字信号的速率也愈来愈高,Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域,硬件设计工程师们需要改 变传统
  • 关键字: SPARQ  信号完整性  S参数  

力科中国2014春季大型促销活动

  •   力科中国今天宣布一项2014年春季大型促销活动:部分型号的少量产品被允许在有限的时间内在中国市场以极优惠的条件进行销售:  (1)LabMaster 9Zi,SDA 8Zi-A,SPARQ,WaveRunner HRO 6Zi,WE100H系列型号中的部分产品将获得超大幅度的优惠折扣。  (2)免费配送任意三款软件选件。  (3)为主机配置新探头也可获得更加优惠的折扣。  活动时间:截至到2014年5月31日   
  • 关键字: 力科  WE100H  SPARQ  

力科发布Thunderbolt 物理电气层端到端完整测试解决方案

  •   SPARQ供给的S参数的Touchstone格局文件很容易输出到Eye Doctor II 顶用于嵌入/去嵌和信道仿真。别的,Eye Doctor II 容许用户对发射机旌旗灯号增长或削减预加剧或去加剧,还供给了接管机的硬件平衡器仿真功效,使得颠末接管机平衡以后的Thunderbolt旌旗灯号能用于做眼图和发抖丈量。   力科公司日前公布针对新的Thunderbolt串行数据尺度的电气物理层端到端完整测试办理计划。力科的串行数据阐发仪SDA 8Zi-A,SDA II和Eye Doctor II 阐发
  • 关键字: 力科  SPARQ  Thunderbolt   

力科公司在DesignCon 2011上获得最高荣誉

  •   力科公司,全球领先的示波器、协议分析仪和串行数据测试方案供应商,今天宣布其45GHz 的WaveMaster 845Zi-A示波器获得2011年DesignCon测试和测量设备类的年度”DesignVision奖”。WaveMAster 845Zi-A是当前世界上最高带宽的实时示波器,其入选理由是基于市场前景,独创性方法和设计的质量。   “WaveMaster 845Zi-A使得我们客户为下一代数据通信系统研发高速信号技术成为可能,”力科公司总裁兼C
  • 关键字: LeCroy  SPARQ  网络分析仪  

SPARQ系列述评之八 ―― SPARQ 动态范围

  • 摘要:本文将讨论信号完整性网络分析仪SPARQ动态范围以及考虑一些关键指标的影响,并和竞争对手的两种时域测试设备在动态范围和关键指标进行了深入比较,提供了推导过程并通过实验结果来验证计算的
  • 关键字: SPARQ  动态范围    

SPARQ系列述评之七 ――爱上SPARQ的八大理由(

  • 爱上SPARQ有八大理由: 1,40GHz,4端口 2,一键操作,内置OSLT校准 3,价格只有传统VNA的一小部分 4,能直接用于仿真的S参数 5,实时进行时域观察,仿真和分析 6,支持TDR/TDT模式 7,去嵌入能力 8,
  • 关键字: SPARQ    

SPARQ系列述评之六 ――爱上SPARQ的八大理

  • “告诉我, 我为什么要买你的SPARQ,而不是买VNA? ” 如果您这样问我,对不起,也许我会反问您,您的真实的测试需求是什么? 我想说的是,SPARQ是满足信号完整性市场的最好的S参数测试仪。如果您是类似于华为,
  • 关键字: SPARQ    

SPARQ系列述评之五 ―― 关于S参数(下)

  • 三, 直接用于仿真的S参数的特性不是任何S参数文件都可以直接用于仿真软件。 SPARQ区别于VNA的一点是,SPARQ测量出来的S参数可以直接用于仿真软件。 我们知道,可直接用于仿真软件的S参数需要具备以下特点:1,遵循三
  • 关键字: SPARQ  S参数    

SPARQ系列述评之四―― VNA用户的真实故事

  • 史蒂夫是设计背板的信号完整性工程师。他的工作是设计背板上承载特定速度信号的印制电路板。具体来说就是分析背板上一块子板通过连接器到靠近另外一块子板的连接器的特定通路信号的完整性。

    他将微波
  • 关键字: SPARQ  VNA    

SPARQ系列述评之三―― 关于S参数(上)

  • 无源网络如电阻,电感,电容,连接器,电缆,PCB线等在高频下会呈现射频、微波方面的特性。S参数是表征无源网络特性的一种模型,在仿真中即用S 参数来代表无源网络,因此,S参数在射频、微波和信号完整性领域的应用都
  • 关键字: SPARQ  S参数    

SPARQ系列述评之二

  •   摘要:随着半导体工艺的不断发展,数字信号的速率也愈来愈高,Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域,硬件设计工程师们需要改变传统的设计理念,他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号的质量,或许在制定产品设计方案的时候就需要进行调研;需要在设计过程的每一个环节去思考信号质量问题,如方案设计环节,原理图设计环节,PCB设计环节,测试验证环节等等;需要考虑到系统中的每一个构成成分可能给信号质量带来的影响,如过孔,电容,电感,阻抗,接插件等等;所有高速设计相关的问题也常被统称为信号完整
  • 关键字: 力科  分析仪  SPARQ  

SPARQ系列述评之二 ――信号完整性问题与S参数的关

  • 摘要:随着半导体工艺的不断发展,数字信号的速率也愈来愈高,Gbps以上的高速信号已经随处可见。面对高速设计的新领域,硬件设计工程师们需要改 变传统的设计理念,他们需要以更加超前的思维去思考自己将要设计的信号
  • 关键字: SPARQ  信号完整性  S参数    

SPARQ系列述评之一

  •   一,什么是SPARQ?   很多人在问,为什么要将这个产品命名为SPARQ? SPARQ是S-Parameter Quick的简称——意为快速测量S参数。 SPARQ是不同于市场上已有的VNA和TDR的一种新型仪器,是力科在信号完整性测量领域的又一创新产品。 SPARQ是所有希望摆脱使用传统VNA的苦恼(极其繁琐的校准过程)的工程师们的福音!是所有想买VNA但又没有足够的预算的公司的福音(VNA实在是贵得“咬牙”)! 力科带来福音,是因为力科听到了工程
  • 关键字: LeCroy  网络分析仪  SPARQ  

SPARQ系列述评之一 ――SPARQ概述

  • 一,什么是SPARQ?  很多人在问,为什么要将这个产品命名为SPARQ? SPARQ是S-Parameter Quick的简称——意为快速测量S参数。 SPARQ是不同于市场上已有的VNA和TDR的一种新型仪器,是力科在信号完整性测量领域
  • 关键字: SPARQ    

力科公司发布一种新型仪器,信号完整性网络分析仪SPARQ

  •   力科公司作为示波器、协议分析仪以及串行数据测试解决方案的领导厂商,今天宣布推出一种新型仪器,SPARQ系列信号完整性网络分析仪。SPARQ在高达4端口上测量频率40GHz的S参数,一键操作,而且成本只有传统测量方法如矢量网络分析仪的一小部分。SPARQ的高性价比和简单易用,使得多端口的S参数测量将被更广泛的人群所运用。   SPARQ是时域仪器,运用TDR/T技术以及力科创新专利来快速获取波形和测量被测设备的S参数。SPARQ同时测量频率和时域的结果,产生可以直接用于仿真软件的标准Touchston
  • 关键字: 力科  网络分析仪  SPARQ  
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