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吉时利发布4200-SCS半导体特征分析系统KTEI V7.1升级版

  •   吉时利(Keithley)仪器公司,日前发布最近针对其屡获殊荣的4200-SCS半导体特征分析系统推出了KTEI(吉时利交互式测试环境)V7.1版。经过此次软件升级之后,KTEI支持更高功率半导体器件的测试。这样,4200-SCS就支持从低到高各种功率水平的器件的特征分析,从而成为市场上最完整的半导体特征分析仪,大大降低了一些复杂测量的难度,并且通过保护用户的固定资产投资降低了用户的测试成本。   KTEI V7.1的此次升级融合了多种新特征和新功能,扩宽了4200-CVU(电容-电压单元)的功能,
  • 关键字: 吉时利  Keithley  半导体  KTEI  
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