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fpga逻辑芯片功能故障测 文章 进入fpga逻辑芯片功能故障测技术社区

基于FPGA实现逻辑芯片的功能故障测试

  • 在最原始的测试过程中，对集成电路（IntegratedCircuit,IC）的测试是依靠有经验的测试人员使用信号发生器、万用表和示波器等仪器来进行测试的。这种测试方法测试效率低，无法实现大规模大批量的测试。随着集成电路的集成度...
  • 关键字： FPGA逻辑芯片功能故障测  
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fpga逻辑芯片功能故障测介绍

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