首页　 资讯　 商机 　 下载　 拆解 　 高校　 招聘 　 杂志　 会展　 EETV　 百科 　 问答　 电路图　 工程师手册 　 Datasheet　 100例 　 活动中心　 E周刊阅读 　 样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> award

award 文章 进入award技术社区

科利登获《测试与测量世界》Best in Test Award

  • 科利登系统有限公司(Credence Systems Corporation, 纳斯达克代码：CMOS)日前宣布其Sapphire D-10系统荣获2006年度《测试与测量世界》杂志授予的”Best in Test award”（译：最佳测试奖）奖项。 Sapphire D-10是下一代成本敏感型消费类芯片测试系统。Sapphire D-10是一款极紧凑的测试系统，它采用先进科技，集成了更多更好的特性功能。Sapph
  • 关键字： Award  Best  in  Test  测试与测量世界  科利登  测试测量  
共1条 1/1 1

award介绍

您好，目前还没有人创建词条award!
欢迎您创建该词条，阐述对award的理解，并与今后在此搜索award的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案：1101082052    京公网安备11010802012473