- 显微镜的STM原理与AFM工作原理STM概述1982年，国际商业机器公司苏黎世实验室的G..Binnig和HeinrichRohrer及其同事们共同研制成功了世界上第一台新型的表面分析仪器—扫描隧道显微镜(ScanningTunnelingMicroscope...
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显微镜 STM原理 AFM
- 半导体工业目前已经进入65纳米及以下技术时代，关键特征通常为纳米级，如此小特征的制造工艺要求特殊的测量仪器，以便能够表征出纳米级几何尺寸，从而检验出任何偏离工艺规格中心值的情况，确保与设计规格保持一致。
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AFM 65 nm 测量技术
- Asylum Research近日宣布将对其原子力/扫描探针显微镜（AFM/SPM）产品提供2年的标准性保证，包含Ayslum MFP-3D和Cypher AFM线上完整AFM系统的零部件和人力维护。在普通使用过程中产生的问题，Asylum将为客户提供零成本维修。这项新的维护是对Asylum的6个月无条件退款保证的补充，为客户提供更新更高标准的保护。
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Asylum AFM/SPM
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