首页  资讯  商机   下载  拆解   高校  招聘   杂志  会展  EETV  百科   问答  电路图  工程师手册   Datasheet  100例   活动中心  E周刊阅读   样片申请
EEPW首页 >> 主题列表 >> 锡渣

锡渣 文章

功率半导体晶元浪涌击穿的分析与研究

  • 整流桥击穿短路失效,故障表现为桥堆内部二极管晶元浪涌击穿。本文从整流桥失效机理、器件结构、生产过程可靠性等方面分析,通过采用X-ray、超景深微镜、QT2等设备对器件进行全面分析论断。通过研究分析发现,此故障为晶元焊接后清洗不良所致,焊接过后晶元周围多余焊料未清洗干净,导致晶元耐电压能力下降。整改从清洗环节入手,通过更改清洗溶液比重,以及建立报警和可追溯机制,杜绝此故障发生。
  • 关键字: 晶元  锡渣  清洗不良  浪涌击穿  比重  202109  
共1条 1/1 1

锡渣介绍

您好,目前还没有人创建词条锡渣!
欢迎您创建该词条,阐述对锡渣的理解,并与今后在此搜索锡渣的朋友们分享。    创建词条

热门主题

树莓派    linux   
关于我们 - 广告服务 - 企业会员服务 - 网站地图 - 联系我们 - 征稿 - 友情链接 - 手机EEPW
Copyright ©2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《电子产品世界》杂志社 版权所有 北京东晓国际技术信息咨询有限公司
备案 京ICP备12027778号-2 北京市公安局备案:1101082052    京公网安备11010802012473