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矢量发生 文章

芯片设计中的可测试设计技术

  • 在测试中,目的是要尽快确定芯片是否以较高的稳定性正常工作,而不是绝对的稳定性。现在芯片设计团队普遍认识到,这需要在芯片上添加DFT(可测试设计)电路。第三方工具和IP (知识产权)企业可帮助实现此目标。
  • 关键字: 矢量发生  芯片设计  功能模块  
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矢量发生介绍

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