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技术的嵌入式 文章

探讨基于JTAG技术的嵌入式系统测试的各个阶段

  • 引言 IEEE 1149.1边界扫描测试标准(通常称为JTAG、1149.1或dot 1)是一种用来进行复杂IC与电路板上的特性测试的工业标准方法,大多数复杂电子系统都以这种或那种方式用到了IEEE1149.1(JTAG)标准。为了更好地理解这种
  • 关键字: JTAG  技术的嵌入式  系统测试    
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技术的嵌入式介绍

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