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集成电路测试机的挑战与趋势

  •   迎 九 (《电子产品世界》编辑,北京 100036)  摘 要:介绍了集成电路测试机(ATE)面临的挑战与解决方案。  关键词:集成电路;测试;微调;trim  集成电路自动测试设备(ATE,测试机)是检测芯片功能和性能的专用设备,据SEMI预测,2019年中国测试机占据后道检测设备62.8%的份额 [1] 。ATE测试的趋势是什么?电子产品世界记者访问了泰瑞达业务战略总监翟朝艳(Natalian Der)女士。  1 芯片测试的新挑战  当今的半导体公司可谓重任在肩:需要在芯片上整合多种功能,有高性
  • 关键字: 202001  集成电路  测试  微调  trim  

如何对浅放电应用中磷酸铁锂 (LiFePO4) 电池使用的TI 阻抗跟踪电池电量计进行微调

  • TI 的阻抗跟踪 TM 电池电量计技术是一种功能强大的自适应算法,其会记住电池特性随时间的变化情况。将这种算法与电池组具体的化学属性结合可以非常准确地知道电池的充电状态 (SOC),从而延长电池组使用寿命。然而,更
  • 关键字: 电池  阻抗  跟踪  电量  微调  进行  TI  使用  放电  应用  磷酸  
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