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器件测试 文章

最新吉时利SMU模块解决了低电流、高电容的棘手测试挑战

  • Keithley 4200A-SCS参数分析仪模块为拥有高测试连接电容、不稳定低电流测量的应用提供了理想的解决方案中国北京2019年11月13日 – 泰克科技公司日前宣布,为Keithley 4200A-SCS参数分析仪推出两款最新源测量单元(SMU)模块,即使在由于长电缆和复杂的测试设置而产生高负载电容时,其仍能执行低电流测量。许多主要测试应用都面临着这一挑战,如LCD显示器制造和卡盘上的纳米FET器件测试。在被测器件本身电容很小的情况下,许多低电流测量应用中所需要的测试设置也会增加SMU输出端的电容。
  • 关键字: 泰克科技  Keithley  器件测试  
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器件测试介绍

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