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2011年第13期 总第342期

  电源管理头条文章

FPGA的60W~72W高密度电源的电气性能、热性能及布局设计之深入分析
在当今的 90nm 和 65nm 工艺中,FPGA 的 Vt 和性能取决于电源轨的精度,因此 17% 的误差会轻而易举地造成性能劣化。比如:100mV 的Vt 差异有可能使漏电流产生 10 倍或更大的变化。

  活动推荐

2011年泰克测试测量技术体验交流研讨会
活动时间:2011年6月9日-21日
地点:长春、大连、哈尔滨、沈阳
泰克的资深专家会亲临现场为您做精彩演讲,与您共同探讨您工作中遇到的测试问题;除此之外,您还可以亲自动手操作体验泰克全新系列的MSO/DPO5000系列示波器,感受它带给您的震撼,全速提升您测试的每一个阶段。
第六届航空航天和军工应用方案巡回研讨会
在本次研讨会中,来自NI 与泛华测控的工程师将与您深入探讨军工与航空领域的典型应用及热点技术。
从理论到实现的创新电子电路教学实践
自动化测试技术展望是技术和方法的全面关键视点,影响着测试测量行业。对测试工程师和经理们来说,最大的挑战之一是与技术趋势保持一致。因此,从与关键的客户的互动到很多其他行业,美国国家仪器公司已经总结出能够影响关键技术商业决定的4个顶级趋势和最佳应用。

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主编  于寅虎
tiger@eepw.com.cn

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