会议主题：高性能测试系统捕获复杂信号背后的玄机

指导单位：中国电子信息产业集团有限公司、美国国际数据集团 (IDG)
主办单位：中国电子国际展览广告有限责任公司、《电子产品世界》杂志社
承办单位：《电子产品世界》杂志社
会议时间： 2016年5月12日
会议地点：中国国际展览中心（老馆）
会议形式：技术演讲 + 仪器展示

国际测试仪器应用技术大会主题方向