实验名称：量子点薄膜的非接触无损原位检测

　　实验内容：量子点薄膜作为核心功能层，在发光二极管、显示器等多种光电器件中起着关键作用。量子点薄膜厚度的不均匀性必然会影响器件的整体光电特性。然而，传统的方法很难在不引入额外损伤的情况下快速获得其厚度分布的相关信息。本文提出了一种非接触式无损检测量子点薄膜厚度的方法。在高电场作用下，量子点薄膜会发生光致发光猝灭现象，这与量子点薄膜的厚度以及施加的电压大小有关。

　　研究方向：光电器件的工艺检测

　　测试设备：ATA-7025高压放大器、位移台，光学夹具，金属探针，信号发生器等。

　　实验过程：

　　在紫外UV灯激发量子点薄膜光致发光后，在金属探针上施加由功率放大器ATA-7025放大后的高压正弦信号，并将电压加在量子点薄膜两端。随后观察量子点薄膜的光致发光光谱变化情况，研究施加的电压大小以及量子点薄膜厚度对于猝灭程度的影响。而对于量子点薄膜阵列，通过CCD摄像系统采集施加电压前后的发光图像并进行图像处理，观察不同厚度像素的发光强度变化情况。

　　实验结果：

　　通过改变施加在量子点薄膜上的电压，从而能够观察其光致发光的猝灭程度情况。在2800Vpp-4000Vpp的电压范围内，随着电压升高，量子点薄膜的猝灭程度逐渐增大。此外，将猝灭效率作为施加电压的函数进行拟合，可以看出拟合效果较好，说明量子点薄膜的光致发光猝灭程度与施加的电压大小存在某种函数关系。根据这种实验规律，对于具有不同厚度的量子点薄膜阵列，可以通过观察其光致发光显微图像的变化来可视化量子点薄膜的厚度信息。

　　功率放大器推荐：ATA-7025高压放大器

图：ATA-7025高压放大器指标参数

　　西安安泰电子是专业从事功率放大器、高压放大器、功率信号源、前置微小信号放大器、高精度电压源、高精度电流源等电子测量仪器研发、生产和销售的高科技企业，为用户提供具有竞争力的测试方案。Aigtek已经成为在业界拥有广泛产品线，且具有相当规模的仪器设备供应商，样机都支持免费试用。

专栏文章内容及配图由作者撰写发布，仅供工程师学习之用，如有侵权或者其他违规问题，请联系本站处理。 联系我们