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纳米级质控时代:立仪光谱共焦技术破解 3C 制造中的 mini LED 与屏幕检测难题

发布人:立仪科技 时间:2025-07-15 来源:工程师 发布文章

3C 制造迈入 “纳米级精度” 新纪元,消费者对屏幕显示效果与设备轻薄化的极致追求,正倒逼制造环节升级 ——0.1 微米级质量控制已成为行业硬性指标。作为国产光谱共焦技术引领者,立仪光谱共焦传感器凭借 A 系列、D 系列、E 系列产品的 50 纳米重复精度及多材质适应

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传统检测方式在此遭遇双重困境:接触式测量极易划伤脆弱的涂层表面;普通光学传感器因光能利用率不足 30%,且存在 > 0.1% F.S./°C 的显著温漂,根本无法满足高速生产线的全检需求。

立仪光谱共焦传感器以亚微米级测量精度实现了突破性解决方案。非接触式测量原理从根源上消除了划伤风险,优化的光学设计大幅提升光能利用效率,配合精准的温度补偿算法,完美适配微米级涂层的高速在线检测场景。

mini LED 点胶的微米级管控到手机屏油墨的高精度测量,立仪光谱共焦技术以 50 纳米级的重复精度、非接触式的测量优势以及强大的多材质适应性,精准攻克了 3C 制造中的诸多质检难题。在 “纳米级精度” 成为行业标配的当下,立仪正以硬核技术实力,为 3C 制造的高质量发展注入强劲动力,推动国产高端制造向更高精度、更优品质迈进。


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关键词: 光谱共焦传感器

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