会议日程
| 时间 | 主题和内容简介 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
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| 13:30-14:00 | 签到 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 14:00-14:15 |
开场 |
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| 14:15-15:00 | 功率半导体器件动态测试与可靠性测试——测试原理，方法和设备 演讲嘉宾：王芳芳——泰克技术专家 |
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| 15:00-15:20 | 茶歇 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
| 15:20-16:05 | 模拟芯片标定的测试误区 演讲嘉宾：叶昊生——泰克技术专家 |
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| 16:05-16:50 | 基于第三代功率半导体的电源设计及产品开发全流程测试方案 演讲嘉宾：黄正峰——泰克技术专家 |
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| 16:50-17:00 | 抽奖 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
