时间	演讲嘉宾及主题
09:30~10:30	主题演讲（会议厅5BC）
10:30~11:00	Demo 参观
11:00~11:30	陈彩云 NI，Emerson T&M 半导体业务应用工程团队经理 演讲主题：VST用于射频前沿技术测试 演讲摘要：本次演讲将介绍最新的矢量信号收发器PXIe-5842 如何准确地生成和测量所需的宽带调制信号，支持高达26.5GHz工作频率与2GHz带宽，可用于测试各种最新无线通信标准产品，包含Wi-Fi 7, UWB, 6G FR3…等；也可应用于航空航天与国防场景。具有数字和模拟脉冲调制功能，同时支持频谱分析、信号分析和信号生成等传统射频功能，协助您克服各种测试挑战。
11:30~12:00	徐佩 南京派格测控科技有限公司 市场部负责人 演讲主题：高功率射频器件测试技术 演讲摘要：演讲将介绍三种不同场景和应用的高功率测试技术，包含基站PA芯片测试，手机Tuner开关测试以及滤波器谐振器测试。主要介绍这些测试技术的测试方法和关键诀窍。
12:00~13:30	午餐+Demo 参观
13:30~14:00	孙冶 NI，Emerson T&M 亚太区半导体业务经理 演讲主题：NI新一代射频测试机介绍与应用分享 演讲摘要： • NI射频测试机主要针对手机与路由器内的射频芯片，基站内部的射频芯片以及卫星通信中的毫米波芯片。并能够提供统一的平台性方案。 • NI基于Silo的模块化设计方案可以帮助客户轻松升级与完善现有的测试机投资来支持新的射频芯片的业务。 • NI使用实验室性能级别的仪表在测试机中，可以提供客户最佳的射频测试性能与测试时间。 • 针对毫米波波束成型芯片的测试，NI提供业界独家的快速幅度与相位扫描的测试技术方案并可以极大的节省客户的测试时间。
14:00~14:30	骆劼行 上海孤波科技有限公司 产品经理（测试自动化） 演讲主题：AI 辅助的芯片硅后验证实践 演讲摘要：随着包括深度学习（DL）、大型语言模型（LLM）、强化学习（RL）在内的机器学习技术的发展，芯片硅后验证领域迎来了创新的机遇。本次会议将深入探讨如何利用各种机器学习技术，优化从芯片硅后验证的测试需求出发，拆解测试用例并生成测试程序，收集测试结果并进行调试，回溯Spec指标进行对比并最终输出Datasheet的全流程自动化过程。我们将探讨在实际的芯片硅后验证的工作流中应用最新的AI算法，提升效率并缩短开发周期。
14:30~15:00	陈勇 NI，Emerson T&M 主任系统架构师 演讲主题：高速 ADC(JESD204B) 测试方案 演讲摘要：传统的单lane 的CMOS/LVDS 接口只能覆盖1~2Gbps 以下速率的数据传输，为了达到更高的传输速率，只能增加更多的接口，而更高速率的JESD204B/C 没有此问题，因此更简洁接口的JESD204B/C将会成为高速数据传输的趋势，基于JESD204B/C的高速ADC 也会越来越普及，因此NI提出了基于PXIe-6594的高速ADC测试方案，此方案对JESD204B进行了高度的封装，客户不用花时间在204B的协议实现上，大大简化了高速ADC的测试。
15:30~16:00	周鑫淼 中山市博测达电子科技有限公司 副总经理 演讲主题：针对量产的标准化FCT平台设计 演讲摘要：目前，在工业、医疗、能源、国防领域，存在着大量的多种类、小批量的量产自动化测试需求。博测达根据二十年的行业经验，总结出模块化标准测试平台，针对从手动测试到半自动化测试到全自动化测试提出完整的解决方案，并在多个头部客户中取得了非常优秀的效果。
15:00~15:30	茶歇+Demo 参观
16:00~16:30	李成 NI，Emerson T&M 主任系统架构师 演讲主题：基于PXI平台的光电子应用测试方案 演讲摘要：AI、LLM和ML正在推动高性能计算蓬勃发展，数据高速传输是高性能计算的基础，光电子则为高速数据传输提供了解决方案。光电子技术在高速演进的阶段，遇到了多通道高密度传输、异质集成等问题，也让测试变得更加复杂具有挑战；NI基于PXI平台的解决方案，集成了电学和光学仪器，为光电混合信号的测试和测量提供了优质高效的平台。
16:30-17:00	主会场 幸运抽奖（华夏厅）

7大半导体热门Demo

现场将有40+Demo展出，半导体7大热门Demo如下，更多Demo将陆续公开，敬请期待。
     • 使用 NI VST3 射频仪器助力无线通信测试
     • 基于JESD204B协议的高速ADC量产测试方案
     • 基于PXI平台光电混合板卡的MZM调制器测试方案
     • 基于STS VST3的Wi-Fi 7 EVM 测试及软件解决方案
     • MCU自动化测试方案
     • 应变计测试仪
     • 一站式半导体测试解决方案
*Demo以现场展示为准

时间	演讲嘉宾及主题
09:30~10:30	主题演讲（会议厅5DE）
10:30~11:00	Demo 参观
11:00~11:30	王晖 NI，Emerson T&M 主任系统研发工程师 演讲主题：未来驾驶：软件定义汽车（SDV）的测试革命 演讲摘要：随着汽车行业向软件定义汽车（SDV）转型，市场趋势显示对高度自动化和灵活测试解决方案的需求激增。然而，传统测试方法面临多重挑战，包括复杂的系统集成和快速变化的技术标准。NI通过创新的HIL测试解决方案，致力于应对这些挑战。我们的方案不仅提升了资产利用率和生产力，还改善了团队协作，大幅缩短了设置和配置时间。借助先进的自动化技术和灵活性，NI确保客户能够快速适应市场变化，实现高效、可靠的测试流程，从而加速产品上市，提升竞争优势。
11:30~12:00	郑凯 苏州瑞地测控技术有限公司 总经理 演讲主题：从毫米波雷达测试到域控测试，构建完善的ADAS测试解决方案 演讲摘要：从物理信号仿真，硬线信号仿真和测试，再到车载以太网及域控单元的测试，瑞地测控为智能网联企业提供完备的测试解决方案；紧缩场测试、DSI3总线协议仿真器、TSN网络交换设备，GMSL视频注入单元等专用测试单元的开发为ADAS从业者提供了便利的测试手段和有效的评价方法。
12:00~13:30	午餐+Demo 参观
13:30~14:00	徐磊 NI，Emerson T&M 资深系统工程师 演讲主题：借助NI测试方案，加速ADAS/自动驾驶开发迭代 演讲摘要：随着ADAS和自动驾驶技术的迅速发展，如何加速开发迭代成为行业的焦点。此次演讲将分享市场动态和技术趋势，并充分展示NI的全面测试方案，包括数据采集、数据回灌以及HIL测试等。随后将介绍测试方案中关键技术，如数据在线压缩、RDMA直接注入和逆ISP实现，展示这些技术如何提升ADAS/自动驾驶测试的效率和性能。最后，还将展望未来的技术趋势，如集群测试，助力应对更复杂的测试挑战。
14:00~14:30	屠方泽 上海众执芯信息科技有限公司 销售与市场经理 演讲主题：基于NI平台的车联网与车路协同一体化测试系统 演讲摘要：车联网测试系统是指用于对车联网技术、设备、应用及服务等进行全面测试的系统。其目的在于通过模拟实际运行环境和各种可能的场景，发现潜在的问题和缺陷，为车联网技术的研发、优化和应用提供可靠的保障。本演讲介绍基于NI平台的车联网测试系统覆盖应用、网络层、消息层、安全层和射频测试。并支持最新发布的强标GB44495-2024《汽车整车信息安全技术要求》。并介绍在实际场景下通过信道模拟器来真实还原外场无线环境。
14:30~15:00	余东海 杭州迪为科技有限公司 HIL测试高级经理 演讲主题基于NI PXI平台的整车级HIL仿真测试系统 演讲摘要：随着汽车智能化快速发展，汽车上各系统控制器交互场景相应大幅提高，传统单控制器HIL测试系统已无法满足跨系统测试需求，迪为科技基于NI PXI平台开发出一套整车级HIL测试系统，该系统可实现三电域、底盘域、智驾域和车身域的单一控制器、单域测试，也可联合进行整车级HIL测试。
15:00~15:30	茶歇+Demo 参观
15:30~16:00	杨堃 NI，Emerson T&M 半导体大客户经理 演讲主题：宽禁带半导体（SiC）动态可靠性测试的挑战 演讲摘要：由于其优越的材料特性，宽禁带半导体(WBG)在许多功率应用中正逐步取代传统的硅基器件，其中的热点之一就是SiC上车用作电动汽车逆变器的核心组件，同时带来的问题是如何确保SiC模组的可靠性。本次议题将会介绍在AQG324中新定义了针对WBG的测试方法以及NI SET动态可靠性测试方案，为SiC上车保驾护航。
16:00~16:30	戴留兴 固势(苏州)科技有限公司 CEO 演讲主题：车规级半导体SiC功率模块动静态测试系统 演讲摘要：GS车规级半导体功率模块测试系统是一款针对功率半导体芯片，器件，模块的专用测试设备，系统可针对动静态测试配置不同的输入输出设备，实现IGBT，以及宽禁带半导体SiC，GaN 等功率半导体芯片，器件，模块的动静态参数测试。
16:30-17:00	主会场 幸运抽奖（华夏厅）

11大新能源汽车热门Demo

现场将有40+Demo展出，产品平台7大热门Demo如下，更多Demo将陆续公开，敬请期待。
     • 基于VTD和NVIDIA Orin的自动驾驶HIL方案
     • 自动驾驶智能摄像头回灌测试系统
     • 车规芯片HIL测试
     • 基于NI平台开发EPS HIL测试系统
     • 车联网测试解决方案
     • 完善的传感器及域控测试解决方案
     • 基于NI的IGBT/SiC的动态测试
     • 使用NI平台进行智能座舱的自动化测试
     • 声音与振动领域的测试测量技术
     • NI电池测试系统
     • NI ETX汽车电子生产测试系统
*Demo以现场展示为准

时间	演讲嘉宾及主题
09:30~10:30	主题演讲（华夏厅）
10:30~11:00	Demo 参观
11:00~11:30	周林 NI，Emerson T&M 首席业务经理 演讲主题快速迭代的模块化仿真验证系统在UAM/AAM设计开发中的应用 演讲摘要：作为应用革命性技术且满足适航标准的新一代飞行器，eVTOL在其正向开发流程中， 需要工程团队快速搭建测试验证系统和手段，以同步满足各节点的多种测试验证需求，加快开发流程；同时面对可能的多次设计迭代，需要测试验证系统具备可灵活快速升级的能力以应对需求改变；NI System on Demand 技术为以上工程需求提供了完美的解决方案，可以根据测试需求和信号接口定义，由仿真验证系统设计数据库自动化生成标准模块化仿真验证系统设计方案，并完成系统交付，同时可以根据需求变化进行自动化配置完成系统变化和升级。System on Demand 数据库包含通过全面软硬件验证的各种信号类型和多种连接方式，可以支持各种机载设备和系统的仿真测试，并且可以支持产品设计周期（V-Diagram）中不同阶段的所有验证需求。
11:30~12:00	刘金龙 象控科技（上海）有限公司 创始人 / CEO 演讲主题：6G卫星互联网发展趋势与关键技术 演讲摘要：卫星互联网是"高速泛在，天地一体"的未来6G立体通信网络的重要组成部分。低轨卫星及5G/6G NTN具有与地面蜂窝通信不同的技术挑战，演讲将在低轨星座、手机直连卫星、3GPP NTN、相控阵天线、数字星座仿真等核心技术的分析与研判基础上，提出快速构建科研与工程验证技术底座的路径与方案。
12:00~13:30	午餐+Demo 参观
13:30~14:00	陈欣 NI，Emerson T&M NI 中国创新发展中心技术市场经理 顾恩遥 NI，Emerson T&M NI 资深系统工程师 演讲主题：依托NI PXI平台，极速驱动前沿科技创新 演讲摘要：PXI技术由NI于1997年开创，并已发展成为全球公认的开放式行业标准。NI PXI平台凭借其卓越的性能、出色的可扩展性及可靠的稳定性，已成为众多前沿科技研究中的核心工具。在本次演讲中，您将聆听到全球顶尖学者如何在医疗成像、脑科学、存算一体、锂电池无损检测、声学拓扑态等领域，充分发挥PXI平台的优势，实现突破性的科研成果。此外，针对存算一体/忆阻器领域的加速需求，NI重磅发布了全新解决方案——UFPIV（超短脉冲测试系统）。通过这一创新技术，您将深入了解如何实现对复杂计算架构的高精度测试和优化。本次演讲将由NI资深技术专家倾情分享，带您抢先掌握前沿科技的最新动态和应用实践。
14:00~14:30	陈亮 陕西威迈装备技术有限公司 总经理 演讲主题：MAL/HAL低代码自动化测试系统介绍 演讲摘要：自动化测试软件的开发方面具有以下挑战： （1）紧迫的开发周期 （2）需求定义不清晰 （3）测试步骤不断变化 （4）硬件设计完成之前就要开始软件开发 （5）软件和硬件工程师分离 维护方面具有以下挑战： （1）长产品生命周期 （2）仪器故障、过时变更、产品更新 （3）测试步骤更改 （4）需要新硬件 （5）制造工程师通常不是原始的测试开发人员 因此，自动化测试软件的模块化、灵活性和可扩展性对于成功开发自动化功能测试系统至关重要，硬件抽象层(HAl)和测量抽象层(MAl)是解决这些问题的有效设计方法，采用抽象层会使得测试序列更快开发，更易于维护，更适应新的仪器和测试工艺要求，便于后期维护等。
14:30~15:00	庄文轩 上海华穗电子科技有限公司 项目经理 演讲主题：让T/R组件测试可以黑灯 演讲摘要：从T/R组件的生产测试场景出发，论述当前T/R组件测试的痛点及困境。以T/R组件测试系统为中心，展开介绍T/R组件的黑灯测试方法。演讲分为几大板块：T/R组件的生产工艺流程、自动化测试系统的组成、AgileT架构支持、系统案例介绍等，系统介绍T/R组件黑灯测试的优势，华穗科技的T/R组件测试系统是如何做到高效、高精度、高集成度的。
15:00~15:30	茶歇+Demo 参观
15:30~16:00	刘亮 曾益科技 研发总监 演讲主题：B5G/6G, 信道, 卫星 SDR 解决方案 演讲摘要：曾益科技基于 NI 硬件和软件平台, 结合自身在射频和 FPGA 领域的专业经验, 为客户提供 B5G/6G, 信道, 卫星等相关的 SDR 解决方案。
16:00~16:30	张博 NI，Emerson T&M 应用工程师 演讲主题：NI Datalink 测试框架与应用 演讲摘要：本演讲将结合NI高性能模块化仪器VST（矢量信号收发仪）和FPGA协处理器，介绍NI最新的Datalink 测试框架，性能，以及其在卫星通信领域的实用案例。
16:30~17:00	主会场 幸运抽奖（华夏厅）

11大前沿研究和科研热门Demo

现场将有40+Demo展出，产品平台7大热门Demo如下，更多Demo将陆续公开，敬请期待。