低成本 BER 测试仪测量低数据速率应用中的错误

 Atmel AVR微控制器创建 PRBS 信号，并将生成的输出流与接收到的数据位进行比较（图1）。发送 100 万位后，系统会在 2 行 x 16 字符LCD上显示接收错误的位数。您可以对设备进行编程以传输更长的位序列；然而，这样做会显着增加测量时间。许多低成本或的开发工具可用于 AVR 微控制器。该设计理念使用汇编器和串行编程器（参考文献 2 和 3）。

该设计使用 8 位斐波那契型 LFSR（线性反馈移位寄存器）来生成 PRBS 流。基本设计包括一个使用 XOR 指令进行模 2 加法的串行移位寄存器（图 2）。您选择反馈抽头的位置以获得周期为 2 8 –1 位的长度序列。还提供不同长度和反馈抽头的其他 LFSR 设计（参考文献 4）。您可以轻松地调整清单 1中的软件 来生成周期较长的 PRBS 信号。为AVR微控制器编写了简化的汇编程序流程图（图3）。

线性反馈移位寄存器图 2线性反馈移位寄存器生成伪随机位序列。

BER测试仪的程序子程序流程图图 3简化的流程图说明了 BER 测试仪的程序子例程。  生成的位序列出现在引脚端口 A1 处，您可以将其连接到适合被测系统的发射器。将方便接收器的数字输出连接到引脚端口 A4。处理器将接收到的输入与端口 A1 上两个“发送”位之间的输出进行比较。当发送和接收的位不匹配时，显示的错误数量会增加。如果系统出现吞吐量延迟，则需要修改软件以应对延迟。